ブルカージャパン株式会社

■Dimension シリーズ Bruker のDimension Icon® 原子間力顕微鏡 (AFM) システムは、科学技術・産業分野のナノスケール研究者に、最高の...

8種類の品番

• 測定機器

• 形状測定機

■AFM装置メーカーとして唯一のプローブメーカー ブルカーは、高性能なAFM装置群と豊富なプローブの両製品を製造している唯一の会社です...

6種類の品番

■光学式プロファイラー ブルカーは白色干渉法を利用した表面形状計測機器のパイオニアであり、精密デバイスから車載部品等の大型試料に...

3種類の品番

• 観察機器

• 光学顕微鏡

■AFM 赤外分光分析システム 待望の新世代ナノスケール赤外分光システム Dimension IconIR 国内外での最多導入実績を誇るAFMのベストセラ...

4種類の品番

• 観察機器

• AFM (原子間力顕微鏡)

■300mmウェハ用全自動白色干渉測定システム 生産管理における全自動測定のための光干渉型顕微鏡EFEMハンドラーソリューションです。最大...

• 観察機器

• 光学顕微鏡

■マスク向けCO₂精密ドライクリーニング装置 ・フォトマスク用リペア残渣やドライクリーニングによるパーティクル除去 ・マスク縦置きク...

• 洗浄剤・装置

• 洗浄装置

ライフサイエンス用原子間力顕微鏡 JPK Bio AFM ■スキャナ Z方向最大15umのスキャンレンジにより細胞イメージングにも十分なストローク...

6種類の品番

• 観察機器

• AFM (原子間力顕微鏡)

■電子顕微鏡組込み型システム Brukerの電子顕微鏡組込み型ナノインデンテーションシステム (Picoindenter：ピコインデンター) は、SEM・...

4種類の品番

• 観察機器

• 透過型電子顕微鏡

■化合物半導体の品質管理用XRD装置 Bruker QC3 / QC-Velox装置は産業用のXRD装置として専用に設計されています。試料ステージは平置きを...

• 検査装置

• X線検査装置

■ウエハ向けCO2ドライクリーニング装置 ・ウェハ向けCO2精密ドライクリーニングによるパーティクル除去 ・最適化された独自ノズルの採用...

• 半導体製造

• 半導体洗浄装置

■様々な材料領域に対応する革新的ナノ機械的特性評価システム Brukerは様々な研究領域、材料に対してナノ力学・トライボロジー特性評価...

4種類の品番

原子間力顕微鏡 (マテリアルAFM) 小型プラットフォームです。

3種類の品番

• 観察機器

• AFM (原子間力顕微鏡)

■フォトマスク高品質フェムト秒レーザリペア装置 ・最先端半導体デバイス用フォトマスクリペアシステム ・フェムト秒パルスレーザー技術...

• 半導体製造

• 半導体製造装置

■セルメカニクス研究ツール 光ピンセット 分子・細胞・マイクロレオロジープロセスの定量化：倒立顕微鏡とシームレスなセットアップが...

2種類の品番

• 観察機器

• AFM (原子間力顕微鏡)

300mmXYステージ対応・ハイパフォーマンスモデル

2種類の品番

• 観察機器

• 光学顕微鏡

■ノッチやベベルの欠陥を自動で検出　X線トポグラフィ―装置 Bruker JV Sensusはファブ用X線トポグラフィー装置です。近年のシリコン基板...

• 検査装置

• X線検査装置

■多機能摩擦摩試験機 ブルカーのUniversal Mechanical Tester (UMT) プラットフォームは、2000年にの発売以来、市場でもっとも広く使わ...

• メーター・計測機器

• 摩擦計

■結晶欠陥の可視化装置・X線トポグラフィー Bruker JV QCTT装置はX線回折イメージング (XRDI) 技術を用いて結晶欠陥検査を提供する包括...

• 測定機器

• X線回折装置

AutoAFM (大型自動原子間力顕微鏡) です。 ■300mmウェハ対応　大型AutoAFM (自動原子間力顕微鏡) InSight AFP AAFMは、300mmウェハに...

• 観察機器

• AFM (原子間力顕微鏡)

■高精度ナノマシニングリペア装置 ・7nmノード以降最先端半導体デバイス向けフォトマスクを高精度に修正 ・デジタルコントロールにより...

300mmXYステージ対応 (大型重量物 用途) ■大型試料用 白色光干渉型顕微鏡 光学部品、自動車部品、インプラント品、切削加工部品 等　...

• 観察機器

• 光学顕微鏡

原子間力顕微鏡 (マテリアルAFM) のオプション品です。

2種類の品番

■パターンウェハのメタル膜厚・組成評価用高速XRP&XRF測定 Bruker Sirius RF-Tは既に世界の多くのファブでご使用頂いておりますJVX 7300...

• アナライザ

• X線分析装置

■フォトマスク用 AutoAFM (全自動原子間力顕微鏡) Insight AFP PMはフォトマスク用の全自動原子間力顕微鏡です。基本機能はInsight AFP...

• 観察機器

• AFM (原子間力顕微鏡)

■全自動・多目的 薄膜分析用XRD 装置 Bruker JV-DX装置は薄膜X線分析に用いられるあらゆる測定手法を全自動でこなすことができる最新の...

• 測定機器

• X線回折装置

TriboLab HDブレーキ材料摩擦試験機は、消費者や安全・環境規制当局の要求する認証を得るため、厳しい試験が求められる、最先端のブレー...

• 試験機器

• 摩擦試験機

650mmXYステージ対応 (大型パネル基板用途) ■実装基盤専用　白色光干渉型顕微鏡 最大 610mm x 610mmサイズまでのさまざまな実装基盤の...

• 観察機器

• 光学顕微鏡

■CMPプロセス・材料特性評価システム TriboLab CMPは高い堅牢性を備えたブルカーの摩擦摩耗試験機UMT TriboLabをベースに開発された、CM...

大型ステージ対応触針式プロファイリングシステム (12inch XY & Θ)

■AutoAFM (全自動原子間力プロファイラー) Insight CAPはCMPやEtchプロセス評価用の全自動AFMです。最長100mmまでのプロファイリング機...

• 観察機器

• AFM (原子間力顕微鏡)