電子顕微鏡組込み型ナノインデンテーションシステム SEM／TEM in-situ ナノインデンター-PI 89 SEM PicoIndenter

電子顕微鏡組込み型ナノインデンテーションシステム SEM／TEM in-situ ナノインデンター-PI 85E SEM PicoIndenter

電子顕微鏡組込み型ナノインデンテーションシステム SEM／TEM in-situ ナノインデンター-PI 95 TEM PicoIndenter

電子顕微鏡組込み型ナノインデンテーションシステム SEM／TEM in-situ ナノインデンター-PI 80 SEM PicoIndenter

電子顕微鏡組込み型ナノインデンテーションシステム SEM／TEM in-situ ナノインデンター-ブルカージャパン株式会社

電子顕微鏡組込み型ナノインデンテーションシステム SEM／TEM in-situ ナノインデンター
ブルカージャパン株式会社

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この製品について

■電子顕微鏡組込み型システムBrukerの電子顕微鏡組込み型ナノインデンテーションシステム (Picoindenter：ピコインデンター) は、SEM・TEM内に組み込むことで、ナノインデンターなどの定量性のあるナノ力学特性評価を行いながら、その際に実際に生じたナノ力学現象 (破壊、剥離、結晶面のすべりなど) をin-situで観察することが可能です。

SEM・TEMでの観察結果を画像、動画で記録し、ナノ力学特性評価で得られた荷重－変位曲線とリアルタイムで比較することで、ナノ力学現象についてより深い考察や知見を得ることが期待できます。Brukerのピコインデンターは多くのメーカーのSEM、TEMに適合するように設計されています。皆様がお持ちのSEM、TEMに対し、接続に必要なスループットをご準備、簡単に接続できるようセットアップされます。

システム特徴
■SEM／TEM中でナノインデンテーションをはじめとする様々な試験が可能多種多様な試料で、基本的な機械的特性、応力－歪み挙動、剛性、破壊靭性、および変形メカニズムを評価するために、様々な測定手法・モードを選択可能です。具体的にはナノインデンテーション・ナノスクラッチ・ナノDMA・圧縮試験・曲げ試験などです。Push-to-Pull (PTP) デバイスを搭載することでナノワイヤなどの引張試験を実施可能で、電気特性の変化も同時に計測できます。

■EBSDなどSEM／TEM中で行う各種分析手法とシームレスに評価可能ブルカー特許出願済の試料ステージを用いて、ピコインデンターで硬さ・弾性率などを測定した後、EBSDで結晶方位を観察するなどシームレスに評価可能です。複数の分析手法を組み合わせることで深い知見が得られます。

■シームレス評価を可能にする日本で唯一のチルトローテーションステージBrukerは傾き補正、回転が可能なチルトローテーションステージをご提供します。このステージはBrukerが日本で特許を取得している技術でSEMチャンバー内でEBSD、FIBなどの手法をシームレスに実施することを可能にしました。

■最高1,000℃、最低-130℃の加熱・冷却機構極限の環境下における材料特性評価に理想的な機能です。加熱・冷却時の材料変形の挙動を直接観察できます。