パターンウエハのメタル膜厚・組成評価用、高速XRR & XRF測定装置 Sirius RF-T ブルカージャパン株式会社
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この製品について
■パターンウェハのメタル膜厚・組成評価用高速XRP&XRF測定
Bruker Sirius RF-Tは既に世界の多くのファブでご使用頂いておりますJVX 7300RF-Tの後継機種で、微小スポットXRFと特許取得した高速・微小XRRを組み合わせたマルチチャンネル計測プラットフォームです。パターン認識を組み合わせることで微小パッドやスクライブライン上での測定が可能です。 XRFでは検量線を用いた膜厚測定と検量線を用いた組成分析を行うことができ、非常に薄い膜から1μm程度の厚膜まで幅広いレンジの膜厚測定を行うことが可能です。XRRでは絶対膜厚測定を行うことができ、独自の光学系により測定は一点あたり、数秒で完了することができます。高度な自動安定化機構により検量線の引き直しなどのユーザーの負荷は最低限となるよう設計されています。-
シリーズ
パターンウエハのメタル膜厚・組成評価用、高速XRR & XRF測定装置 Sirius RF-T
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取扱企業
ブルカージャパン株式会社
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パターンウエハのメタル膜厚・組成評価用、高速XRR & XRF測定装置 Sirius RF-T 品番1件
| 商品画像 | 品番 | 価格 (税抜) |
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Sirius RF |
要見積もり |
のついている項目名や値は、Metoreeの自然言語処理アルゴリズムを用いて自動生成された値です。各メーカーの製品を横断して比較しやすくするための参考としてご利用ください。自動生成データは黒色の文字、元データは灰色の文字です。
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