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検査装置に含まれる78カテゴリ一覧です。半導体外観検査装置・基板検査装置・寸法検査装置など幅広く、製品・メーカー・代理店を探すことができます。
4,482 点の製品中 30ページ目
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ニデックアドバンステクノロジー株式会社
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■特徴 ・ハーフ/クオーターパネル向け高精度検査装置 ・チップレットなどの大型・多ピン基板対応 ・多様なオートメーション要求に対応 ・LULはご要望仕様に合...
2種類の品番
ニデックアドバンステクノロジー株式会社
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高速高精度シャトル型ステップ&リピート式OPEN/LEAK自動基板検査装置 多面付け基板 (CCM/Memory用途/ICS/CSP等) パターンの導通・短絡 (絶縁) 検査に最適 C...
2種類の品番
ニデックアドバンステクノロジー株式会社
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タッチパネル向けO/S/Cap検査装置 高スループット/高信頼性/高メンテナンス性を実現。本機は、静電型タッチパネルの導通、短絡検査、容量検査を高速で行う装...
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ニデックアドバンステクノロジー株式会社
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■特徴 ・超高速・高精度検査 ・2D/3D同時測定システム ・バンプ径/ピッチ微細化対応
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ニデックアドバンステクノロジー株式会社
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■特徴 ・大型HDI向け高精度検査装置 ・上下最大ポイント数64K対応 ・多面付け基板のStep&Repeat検査と大判基板の一括検査の両方に対応 ・LULはご要望仕様に合...
ニデックアドバンステクノロジー株式会社
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高速高精度‐上/下デュアルシャトル型ステップ&リピート式OPEN/LEAK自動パネル基板検査装置 FC-BGA多面付け基板をデュアルシャトルで効率よく検査、パネルレ...
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■特徴 ・3D/2D/SDの同時測定を高速・高精度に実現 ・金バンプ3D検査に最適 ・多様な搬送システム ■High Accuracy 2D/3D測定精度が大きく向上 ■High Speed ...
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ニデックアドバンステクノロジー株式会社
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■特徴 ・省スペース化対応L/UL一体型 ・高速/高精度対応モデル ・AGVシステム対応 ・LULはご要望仕様に合わせたご提案が可能です ・総合アライメント精度±3.5...
ニデックアドバンステクノロジー株式会社
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高速高精度‐ロータリー・INDEXテーブル式OPEN/LEAK自動個片基板検査装置 BGA-MCM個片パッケージの高速検査に最適。8ステーションのロータリー･インデックス･...
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豊富なオプション群から必要な機能の追加ができる最新機能を盛り込んだフラットケーブル対応の最新テスタ ■特徴 ・高速、高精度 ・4W検査 ・スキャナカード ...
ニデックアドバンステクノロジー株式会社
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多面付けCSP基板 導通・短絡 (絶縁) 検査システム 0.6sec/ピースの超高速検査を実現。ファインピッチ&極薄FC-CSP基板の検査に最適な高速高精度次世代型検査...
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ニデックアドバンステクノロジー株式会社
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次世代基板対応、高速・高精度3次元計測装置 ■特徴 ・深さ5μm、LineSpace2/2対応 ・透過測定法によるSR・ABFの厚さ測定 ・ガラスコア対応可能な技術力と信頼...
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ニデックアドバンステクノロジー株式会社
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■車載パワー半導体 (IGBT,SiC) モジュール絶縁静特性動特性検査装置 「NATS-1000」は車載向けモジュールの高低温温度試験、並びにインライン検査に求められる...
ニデックアドバンステクノロジー株式会社
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次世代基板対応、高速・高精度3次元計測装置 ■特徴 ・深さ5μm、LineSpace2/2対応 ・透過測定法によるSR・ABFの厚さ測定 ・ガラスコア対応可能な技術力と信頼...
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薄膜RFフィルタ/車載DCモジュール/加速度センサ/MEMSデバイスなどあらゆる製品を検査可能 ■特徴 ・超高絶縁 ・最大検査ポイント 512ピン ・高速・高精度 ・...
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