コンタクトプローブのメーカー41社・254製品を一覧でご紹介します。まずは使用用途や原理についてご説明します。
目次
コンタクトプローブは、電導性のあるプローブです。通称として、探針やポゴピンと呼ばれます。
コンタクトプローブを利用すれば、はんだ付けやコネクタ接続などの固定を伴わずにプリント基板や電子部品の導通検査が可能です。検査対象により、プローブ形状などを選択することが可能です。
バネを持った構造で、検査対象の電極に適切な荷重で接触させることができます。
コンタクトプローブは電子部品の導通検査などに使われます。
検査対象は、半導体、液晶パネル、基板、コネクタ、コンデンサ、センサー、電池などの部品となります。
これらの部品の断線や短絡といった単純な検査が可能であるとともに、電流を流したり高周波測定をしたりと広範囲で応用可能です。例えば、ICを検査するために、検査機器側プリント基板にコンタクトプローブを設置し、上からICを接触させることで、固定することなく品質検査が可能です。
コンタクトプローブは、先端であるプランジャー、固定する本体となるパイプ（ないしバレル）、パイプの中にあるバネで構成されます。
パイプの中のバネによりプランジャーがストロークを持ちます。これにより、検査対象に対する適切な荷重での接触が可能となっています。コンタクトプローブを用いる検査の際には、抵抗値が重要な要素となります。固有抵抗とパイプ内部の接続抵抗値を安定化させるように、パイプ内部のバネ圧や構造が最適化されます。
プランジャーは一般的にベリリウム銅製ですが、導通性や剛性を考慮して、快削炭素工具鋼やパラジウム合金など、各種の材料が選ばれます。
パイプにはリン青銅や真鍮、白銅などが用いられます。
バネ圧も重要な要素であるため、ピアノ線やSUS、NASなど適切な素材の選択が行われます。腐食防止のメッキとして金やロジウム、パラジウムなどが用いられます。
コンタクトプローブは一般的には分析機材につながれたソケットに装着して利用されます。ソケットは様々で、基板などの検査に使われる0.45 mm-2.54 mmの間隔でプローブを配置できるものもあります。
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画像出典: 株式会社精研公式サイト株式会社精研の「SWシリーズ」は対応ピッチP=4.75mmコンタクトプローブです。
対応ピッチとはピンを並べて立てる時に最低必要な距離のことで、2本のピンの中心の距離のことです。
アール、ニードル、フラット、逆円錐、三角錐、クラウンなど様々な先端形状がラインナップされています。
半導体、液晶パネル、生基板・実装基板、コネクタ、コンデンサ、センサーなどの部品、電池の充放電などの検査に用いられます。
画像出典: 株式会社喜多製作所公式サイト株式会社喜多製作所の「半導体検査用「MARATHON」シリーズ」は半導体デバイス検査用スプリングコンタクトプローブです。
ピッチとはピンを並べて立てる時に最低必要な距離のことで、本製品はピッチ幅0.15と0.25mmの極細のスプリングプローブです。
優れた加工によって、低い抵抗値と高い耐久性を実現しています。
極細な特徴を生かして、主に半導体、液晶パネル、生基板・実装基板、コネクタ、コンデンサ、センサーなどで使用されます。
画像出典: 株式会社サンケイエンジニアリング公式サイト株式会社サンケイエンジニアリングの「NMBシリーズ非磁性対応プローブ」は非磁性対応コンタクトプローブです。
接点部分の材質に、銅合金を使用しています。
さらに無電解メッキで加工することで、プローブ自身の磁性を限界極力抑えています。
角度センサ、回転軸センサ、電流センサ、および地磁気センサといった磁気応用デバイスの評価検証用、またはそれ以外の磁性を嫌うデバイスの評価検証用などの用途として利用可能です。
画像出典: 東洋電子技研株式会社公式サイト東洋電子技研株式会社の「同軸型4端子型プローブピン」は4端子型（ケルビン）コンタクトプローブです。
4端子測定は微小抵抗値が正確に測定できる精度の高い測定方法です。
本機は同軸構造を採用しており、従来のように2本型プローブピンが不要のため、2接点が独立接触します。
半導体、液晶パネル、生基板・実装基板、コネクタ、コンデンサ、センサーなどの部品、電池の充放電などの検査に用いられます。
画像出典: 日本電産リード株式会社公式サイト日本電産リード株式会社の「LSI検査用スプリングプローブ」はMEMSスプリングプローブコンタクトプローブです。
検査ピッチ90umに対応した特別グレードです。さらに独自構造により低抵抗、低インダクタンスを実現しました。
超微細3次元加工技術によって誕生した本MEMSスプリングプローブはマイクロプロセッサ、アプリケーションプロセッサ等の半導体ウェハー検査工程に最適なMEMSスプリングプローブです。
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