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検査装置に含まれる78カテゴリ一覧です。半導体外観検査装置・基板検査装置・寸法検査装置など幅広く、製品・メーカー・代理店を探すことができます。
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ニデックアドバンステクノロジー株式会社
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高速・高精度4端子検査-ロータリー・INDEXテーブル式OPEN/LEAK自動基板検査装置 高密度-多層ビルドアップ基板 (PCB/HDI/HLC/LED等) パターンの導通・短絡 (...
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ニデックアドバンステクノロジー株式会社
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ワイドバンドギャップな計測技術。絶縁用、静特性用検査装置も構築可能。 ■データトレーサビリティ 外部PCやcloud等の上位データ管理システムとの連携が可能...
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高速・高精度4端子検査‐ロータリー・INDEXテーブル式OPEN/LEAK自動基板検査装置 高密度-多層ビルドアップ基板 (PCB/HDI/HLC/LED等) パターンの導通・短絡 (...
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ワイドバンドギャップな計測技術。絶縁用、静特性用検査装置も構築可能。 ■データトレーサビリティ 外部PCやcloud等の上位データ管理システムとの連携が可能...
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高速・高精度4端子検査‐ロータリー・INDEXテーブル式OPEN/LEAK自動基板検査装置 大版車載基板 (ECU/ADAS/ABS/LED等) パターンの導通・短絡 (絶縁) 検査に最...
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両面アライメント機構付プリント基板全自動検査装置 BGA基板からマザー基板まであらゆるファインピッチ基板の検査をカバーするオールラウンド・ベアボードテ...
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多面付FPC用オープン/μショート/リーク検査装置 大版シート型FPC向け。高いスループットを実現。NRFEIS-5060シリーズは、ファインピッチFPCの次世代O/S検査...
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次世代ICサブストレート基板バンプ検査装置 次世代ICサブストレート基板の3Dバンプの高さと外観の同時検査等に対応 ■特徴 ・高速高精度検査が自由自在 ・超...
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AC/DCMULTITESTER ■特徴 ・超高絶縁1TΩ/10TΩ ・高速・高精度 ・コンパクト設計 ・微小容量検査 ・0.01fF分解能 ・4W低抵抗測定 ・0.1mΩ～最大検査ポイント ...
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次世代ICサブストレート基板バンプ検査装置 超高速で基盤の反りを測定。次世代ICサブストレート基板の3Dバンプの高さと外観の同時検査等に対応 ■特徴 ・高...
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■特徴 ・FC-CSP/大型個片基板向け高精度検査装置 ・チップレットなどの大型・多ピン基板対応 ・ダブルテーブル/シャトル式 ・ LULはご要望仕様に合わせたご提...
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高速/高精度4端子検査対応OPEN/LEAKTESTER 高精度検査と高速検査の両方を実現。低電圧から高電圧、低抵抗から高抵抗の導通・短絡検査をカバーするワイドレン...
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Gold Bump Wafer Process 2D/3D Inspection System Cuピラーバンプ、金バンプ、低段差バンプやマイクロバンプの量産全数検査に最適な高さ (3D) と外観 (2D) ...
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■特徴 ・FC-CSP/大型個片基板向け高精度検査装置 ・チップレットなどの大型・多ピン基板対応 ・ダブルテーブル/シャトル式 ・ LULはご要望仕様に合わせたご提...
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株式会社キャンドックスシステムズ
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■概要 ・プローブを固定し測定ポイントに正確に位置決めする事が可能 ・小型：CP320、400用：CDX-PP001-01 ・差動：CP1000用：CDX-PP002-01 ・自在アームとX-...
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