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走査型プローブ顕微鏡 (SPM) メーカー15社

走査型プローブ顕微鏡 (SPM)のメーカー15社一覧企業ランキングを掲載中!走査型プローブ顕微鏡 (SPM)関連企業の2025年7月注目ランキングは1位:Zurich Instruments AG、2位:日本電子株式会社、3位:株式会社ユニソクとなっています。 走査型プローブ顕微鏡 (SPM)の概要、用途、原理もチェック!

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15走査型プローブ顕微鏡 (SPM)メーカー

走査型プローブ顕微鏡 (SPM) 2025年7月のメーカーランキング


項目別

使用用途

#ラマン測定

#材料評価

#電気特性測定

#表面形状観察

#欠陥評価

#研究開発

#非破壊測定

#ケミカルイメージング

#マッピング

検出原理

原子間力顕微鏡

静電力顕微鏡

磁気力顕微鏡

プローブ制御方式

接触モード型

非接触モード型

タッピングモード型

測定環境

大気中測定型

真空中測定型

液中測定型

機能拡張方式

電気測定対応型

ナノ操作対応型

XYスキャナレンジ µm

10 - 70

70 - 100

100 - 120

Zスキャナレンジ μm

1 - 5

5 - 15

15 - 30

分解能 nm

0 - 1

振動ノイズ μm/s

0 - 1

1 - 7

XYステージ駆動範囲 mm

0 - 20

20 - 200

200 - 300

300 - 400

Zステージ駆動範囲 mm

-12 - 0

0 - 20

20 - 200

18 点の製品がみつかりました

18 点の製品

オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社

試料観察場所の特定やカンチレバーの位置合わせが可能 alpha300A–AFM原子間力顕微鏡

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■ナノスケール表面観察 WITecの原子間力顕微鏡alpha300Aは、豊富なオプションがある研究用グレードの光学顕微鏡に組み込まれた信頼性が...


ブルカージャパン株式会社

300mmウェハ対応 大型AutoAFM (自動原子間力顕微鏡) InSight AFP

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AutoAFM (大型自動原子間力顕微鏡) です。 ■300mmウェハ対応 大型AutoAFM (自動原子間力顕微鏡) InSight AFP AAFMは、300mmウェハに...


パーク・システムズ・ジャパン株式会社

最も正確で使いやすい原子間力顕微鏡 (AFM) Park NX10

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Park NX10は、最高のナノスケール解像度で信頼あるデータを提供します。サンプルのセッティングからイメージング、測定、解析に至るまで...


パーク・システムズ・ジャパン株式会社

汎用性の高いAFMで生産性を大幅に向上 Park NX20 Lite

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Park NX20 Liteは、多様な試料を扱う共同研究室、多変量解析やウェハーの故障解析に最適な多くの独自の機能を備えています。 また、リー...


パーク・システムズ・ジャパン株式会社

自動欠陥検査機能を搭載した唯一のウェハーファブ用AFM Park NX-Wafer

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Park NX-Waferは、半導体および関連ファブリケーション向けの業界をリードする自動AFM測定システムです。 ウェハーファブの検査と解析...


パーク・システムズ・ジャパン株式会社

高分解能3Dメトロロジーのための全自動産業用AFM Park NX-3DM

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パーク・システムズは、オーバーハングプロファイル、高解像度側壁イメージング、および臨界角測定用に設計された完全自動AFMシステムで...


パーク・システムズ・ジャパン株式会社

メディアおよび基板製造に最適なAFM Park NX-HDM

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ナノスケールの欠陥を特定する作業は、メディアやフラットなサブストレートを扱うエンジニアにとって非常に時間のかかるプロセスです。P...


パーク・システムズ・ジャパン株式会社

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Park NX-Mask は、デバイスの微細化、フォトマスクの複雑化に対応した新世代のフォトマスクリペアシステムです。Park NX-Maskは、最先端...


株式会社日本レーザー

走査型プローブ顕微鏡 (SPM) 8インチ (200mm) ウエハ対応 AFM-IR装置 Vista 200 PiFM / PiF-IR

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8インチ (200mm) ウエハをそのままサンプルステージに乗せてAFM-IR測定を実施できる大型サンプル対応モデルです。8インチウエハだけでな...


株式会社日本レーザー

走査型プローブ顕微鏡 (SPM) AFM-IR装置 Vista 75 IR, IR-PiFM / PiF-IR

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光誘起力を使った次世代のPiFM ・ PiF -IR機器 半導体、ナノフォトニクス、ポリマー、無機物などに向けた様々な用途で使用いただけるAF...


株式会社日本レーザー

走査型プローブ顕微鏡 (SPM) AFM-IR装置 Vista 75 IR +s-SNOM, IR-PiFM / PiF-IR

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株式会社日本レーザー

走査型プローブ顕微鏡 (SPM) AFM-IR装置 Vista 75 IR +PL/ラマン, IR-PiFM / PiF-IR

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光誘起力を使った次世代のPiFM ・ PiF -IR機器 半導体、ナノフォトニクス、ポリマー、無機物などに向けた様々な用途で使用いただけるAF...


株式会社日本レーザー

走査型プローブ顕微鏡 (SPM) AFM-IR装置 Vista One IR, IR-PiFM / PiF-IR

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■PiFM用AFM Vista One特徴 PiFM方式を採用することにより、従来のAFM-IRの欠点を克服した最も先進的なAFM-IR機器です。半導体、ポリマー...


株式会社日本レーザー

走査型プローブ顕微鏡 (SPM) AFM-IR装置 Vista One IR +s-SNOM, IR-PiFM / PiF-IR

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走査型プローブ顕微鏡 (SPM) AFM-IR装置 Vista One IR +PL/ラマン, IR-PiFM / PiF-IR

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株式会社日本レーザー

走査型プローブ顕微鏡 (SPM) AFM-IR装置 Vista One DIY, IR-PiFM / PiF-IR

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株式会社日本レーザー

走査型プローブ顕微鏡 (SPM) AFM-IR 装置 AFM-IR PiFM ナノスケール赤外分光イメージング装置[光誘起力顕微鏡]

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■AFM-IR PiFM ナノスケール赤外分光イメージング装置[光誘起力顕微鏡]の特長 ・世界最高の空間分解能 10nm ケミカルイメージング (サン...


株式会社東京インスツルメンツ

仕事関数、表面電位を高感度かつ高精度に測定。広範囲のマッピングも可能。 走査型ケルビンプローブシステム (SKPシリーズ)

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29.8時間 返答時間

■概要 ケルビンプローブの老舗メーカー・英国KP Techonology社が開発した、仕事関数・表面電位マッピング装置です。 大気中・非破壊・...


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