走査型プローブ顕微鏡 (SPM) AFM-IR装置 Vista 75 IR +PL/ラマン, IR-PiFM / PiF-IR-Vista 75 IR +PL/ラマン

PiF-IR
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この製品について

光誘起力を使った次世代のPiFM ・ PiF -IR機器　半導体、ナノフォトニクス、ポリマー、無機物などに向けた様々な用途で使用いただけるAFM-IR装置です。

■AFM-IR装置 Vista75の特徴PiFM方式を採用することにより、従来のAFM-IRの欠点を克服した最も先進的なAFM-IR機器です。半導体、ポリマー、無機物、ナノフォトニクス等の各種用途で使用されています。

■コンパクトな設置面積Vista 75は従来のVista Oneに比べて占有スペースが60%以上コンパクトなデザインになりました。

■サンプルへのアクセスが容易サンプルに簡単にアクセスでき、片手で使えるAFMヘッドクランプにより、チップとサンプルの交換が簡単になります。軽量の取り外し可能な筐体とオープンなデザインにより、光学的な位置合わせが簡単になります。

■より大きなサンプルに対応ステージのトラベルレンジは75mmとなり、サンプルサイズの制限が大幅に緩和されました。

■光学系のクイックチェンジ・切り替えが簡単事前に調整された光学系によりPiFM (PiF-IR) 、sSNOM 、ラマン間の切り替えが簡単に行えます。堅牢なレーザーを搭載。3D駆動のパラボリックミラーは、 PiFM 、 PiF-IR、s-SNOM、チップ増強ラマンなどのあらゆるタイプのチップ増強測定において、励起レーザーをAFMチップの頂点に位置合わせします。

■自己完結型システム特別な環境は必要としません。 Vista 75は防振機能と乾燥空気で温度制御された音響エンクロージャーを完備しています。

型番
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シリーズ
走査型プローブ顕微鏡 (SPM) AFM-IR装置 Vista 75 IR +PL/ラマン, IR-PiFM / PiF-IR

取扱企業
株式会社日本レーザー

カテゴリ

観察機器

走査型プローブ顕微鏡 (SPM)

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走査型プローブ顕微鏡 (SPM) AFM-IR装置 Vista 75 IR +PL/ラマン, IR-PiFM / PiF-IR 品番1件

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商品画像	品番	価格 (税抜)	レーザー	マルチプレクサ	必要なオプション
	Vista 75 IR +PL/ラマン	要見積もり	可視ダイオードレーザー ( PiFM対応)	大型	チップ増強ラマン/PLモジュール

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使用用途

#ラマン測定 #材料評価 #電気特性測定 #ダイナミクス測定 #表面形状観察 #欠陥評価 #研究開発 #非破壊測定 #ケミカルイメージング #マッピング

XYスキャナレンジ µm

10 - 70 70 - 100 100 - 120

Zスキャナレンジ μm

1 - 5 5 - 15 15 - 30

分解能 nm

0 - 1 1 - 100

真空度 nPa

0 - 100 100 - 50,000

到達温度 K

0 - 1 1 - 6 6 - 101

振動ノイズ μm/s

0 - 1 1 - 7

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-12 - 0 0 - 20 20 - 200 200 - 300 300 - 400

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1968年設立、1971年に日本電子株式会社の100％出資子会社となった後、2007年には日本初のMEBOで完全独立いたしました...

本社所在地: 東京都

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■AFM-IR装置 Vista75の特徴

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