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厚み測定器のメーカー30社一覧や企業ランキングを掲載中！厚み測定器関連企業の2025年7月注目ランキングは1位:Micro-Epsilon Japan株式会社、2位:株式会社ミツトヨ、3位:株式会社日本レーザーとなっています。 厚み測定器の概要、用途、原理もチェック！
厚み測定器とは、被測定物の厚みを測定するための機器です。
厚み測定器には被測定物に接触して厚みを測る接触タイプと、被測定物に接触せずに厚みを測る非接触タイプがあります。
2025年7月の注目ランキングベスト10
| 順位 | 会社名 | クリックシェア |
|---|---|---|
| 1 | Micro-Epsilon Japan株式会社 |
19.7%
|
| 2 | 株式会社ミツトヨ |
11.8%
|
| 3 | 株式会社日本レーザー |
9.4%
|
| 4 | 株式会社エビデント |
7.9%
|
| 5 | オプトシリウス株式会社 |
4.7%
|
| 6 | 大塚電子株式会社 |
4.7%
|
| 7 | 株式会社エー・アンド・デイ |
4.7%
|
| 8 | ユニオン光学株式会社 |
4.7%
|
| 9 | 株式会社山文電気 |
3.9%
|
| 10 | シンワ測定株式会社 |
3.9%
|
項目別
72 点の製品がみつかりました
72 点の製品
株式会社ケツト科学研究所
620人以上が見ています
最新の閲覧: 2時間前
返信の早い企業
100.0% 返答率
7.0時間 返答時間
プリンタ内蔵型の膜厚計です。測定したデータはその場で印字できますので、測定物や測定箇所に結果を貼付するなど、現場での膜厚管理を...
オガワ精機株式会社
330人以上が見ています
最新の閲覧: 5時間前
返信の比較的早い企業
4.5 会社レビュー
100.0% 返答率
12.9時間 返答時間
工業製品の表面の膜加工に際して迅速に測定でき、適正な厚さを維持できます。 ■特徴 ・3つの校正モードを搭載、正確に膜厚を測定 ・高...
株式会社日本レーザー
690人以上が見ています
最新の閲覧: 11時間前
返信の比較的早い企業
5.0 会社レビュー
100.0% 返答率
14.1時間 返答時間
■R&D、製造向け 高精度・多層膜・非接触で厚み測定が可能な膜厚計 (厚み計) ・損傷や変形なしで、硬い材料や柔らかい透明な材料の厚さ...
6種類の品番
ユニオン光学株式会社
360人以上が見ています
最新の閲覧: 1時間前
返信の比較的早い企業
100.0% 返答率
12.9時間 返答時間
■特徴 ・非接触で微小箇所の厚さが測定できます。 ・数ミクロンから10mmまでの厚さが測定できます。 ・X.Y.Zの測定が簡単にできます。 ...
株式会社白山システム
360人以上が見ています
最新の閲覧: 2時間前
■概要 手動、接触式の高精度厚さ計測器です。ウエハー、フィルム等が測定対象です。 ■特徴 ミクロン以下の精度をだすためには、測定対...
ＮＶＮ株式会社
440人以上が見ています
最新の閲覧: 4時間前
返信のとても早い企業
100.0% 返答率
2.2時間 返答時間
■非接触でも合金を問わない厚み計 VTLG レーザー光学式厚さ測定システムは、最高の精度と圧延機向けの設計を組み合わせています。 最小±...
ＮＶＮ株式会社
320人以上が見ています
最新の閲覧: 18時間前
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100.0% 返答率
2.2時間 返答時間
■接触による厚み測定 VBM、VBS、および VBK シリーズの接触ゲージは、箔から厚板に至るまでのあらゆる冷間圧延状況および 幅広い周囲条...
TP技研株式会社
220人以上が見ています
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100.0% 返答率
33.7時間 返答時間
膜厚計 (電磁式・渦電流式) ミニテスト720は、8種類をラインナップしています。薄膜から厚膜測定まで、鉄素地専用機・非鉄素地専用機・...
TP技研株式会社
210人以上が見ています
最新の閲覧: 12時間前
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100.0% 返答率
33.7時間 返答時間
膜厚計 (電磁式・渦電流式) ミニテスト730は、8種類をラインナップしています。特に測定レンジの低いタイプの機種 (F1.5、N07、FN1.5) ...
TP技研株式会社
230人以上が見ています
最新の閲覧: 7時間前
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100.0% 返答率
33.7時間 返答時間
膜厚計 (電磁式・渦電流式) ミニテスト700シリーズにおける最上位機種です。膜厚計本体は1台にて、準備された8種類のプローグを付け替...
TP技研株式会社
170人以上が見ています
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100.0% 返答率
33.7時間 返答時間
規格に準じた破壊式 (カット方式) のドライ用膜厚計です。多層コーティングの測定も可能です。 標準チップでの測定範囲は0～200μmです。...
TP技研株式会社
250人以上が見ています
最新の閲覧: 44分前
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100.0% 返答率
33.7時間 返答時間
中央のホイールに偏心性カムを持ち、ウェット上の塗布面を転がすことにより膜厚を測定します。測定範囲は0～1,500μmで、測定範囲は8型に...
TP技研株式会社
220人以上が見ています
最新の閲覧: 2時間前
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100.0% 返答率
33.7時間 返答時間
エッジ・カット式を使用しての塗布厚測定用機器です。操作が非常に簡単で、P.I.G 455 の利点を生かし、定められた角度の円錐型ドリルで...
入江株式会社
160人以上が見ています
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4.7 会社レビュー
100.0% 返答率
11.2時間 返答時間
■GPM2 1次元ガラス厚さ ガラスの厚さ分布の高精度自動測定装置 ■使用分野 ガラス厚みプロファイラであるGPMは、厚さが30μm~700μm (セン...
コムス株式会社
390人以上が見ています
最新の閲覧: 14時間前
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100.0% 返答率
21.0時間 返答時間
■ウェハ厚み測定システム ウェハの厚み測定を非接触・高精度・簡便に行うことができるシステムです。専用ソフトによる簡単な設定で高精...
コムス株式会社
320人以上が見ています
最新の閲覧: 1日前
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21.0時間 返答時間
■非接触厚み測定システム レーザ変位センサを2台使用することにより、測定対象物を上下から挟み込み、非接触で厚みを測定するシステムで...
ミワオプト株式会社
170人以上が見ています
ガートナ社製エリプソメータにオプションとして装着が可能になり膜厚測定の範囲が広くなります。既設のシステムにも装着が可能になりま...
ポニー工業株式会社
260人以上が見ています
最新の閲覧: 4時間前
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100.0% 返答率
25.2時間 返答時間
■概要 数十ミクロンの極薄材測定に対応した超音波厚さ計のハイエンドモデルが登場。プローブを片側から当てるだけで簡単に再現性の高い...
ポニー工業株式会社
340人以上が見ています
最新の閲覧: 1日前
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100.0% 返答率
25.2時間 返答時間
■概要 高速性、接続性、信頼性を備えた1台の厚さ計で、超音波厚さ測定工程を効率化しましょう。39DLPLUS™厚さ計は、厳しい用途向けの精...
ポニー工業株式会社
350人以上が見ています
最新の閲覧: 20時間前
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100.0% 返答率
25.2時間 返答時間
■概要 TI-120Tの高精度モデルです。塗膜下測定など小型ボディに多機能搭載。大容量データメモリー付き厚さ計です。 主な特長 ■塗膜下の...
ダコタ・ジャパン株式会社
330人以上が見ています
最新の閲覧: 18時間前
返信のとても早い企業
100.0% 返答率
0.1時間 返答時間
■概要 ・薄物・精密検査用のフラグシップモデル ・最高精度の超音波厚さ計 ・測定範囲：I-E-Eモード：0.152～12.7mm、I-Eモード：1.27～...
ダコタ・ジャパン株式会社
170人以上が見ています
最新の閲覧: 5時間前
返信のとても早い企業
100.0% 返答率
0.1時間 返答時間
■概要 ・Wi-Fi搭載の画期的な電磁超音波厚さ計 ・タブレット・ノートPCで設定&測定値保存 ・測定範囲：1.5～150mm ・表示：数値、Aスコ...
株式会社マイクロ・システム
40人以上が見ています
■概要 待望のサブミクロン表示が標準装備。 ■主な特徴 フィルム、紙、布などの柔かい物の厚み測定では、条件設定や作業環境の取り決め...
株式会社フジワーク
10人以上が見ています
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100.0% 返答率
4.6時間 返答時間
FT-D300の高分解能仕様 (測定分解能0.01μm) 高分解能0.01μmにより極薄フィルムを高精度で測定可能 ■軽くて浮きやすいフィルムやシート...
株式会社フジワーク
20人以上が見ています
最新の閲覧: 1日前
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100.0% 返答率
4.6時間 返答時間
表示器が内蔵されたオールインワンコンパクト機。搬送機能が更にアップし、安定した連続厚み測定が可能。搬送性能が更にアップし、安定...
株式会社フジワーク
20人以上が見ています
最新の閲覧: 3時間前
返信のとても早い企業
100.0% 返答率
4.6時間 返答時間
リード無しでフィルムの端から連続で厚み測定ができるモデルの最新モデル リード無しでフィルムの端から連続で厚み測定が可能。 ■軽く...
株式会社フジワーク
20人以上が見ています
最新の閲覧: 8時間前
返信のとても早い企業
100.0% 返答率
4.6時間 返答時間
測定者によるバラツキを抑え、1μm以下の極薄フィルムも快適正確測定。オリジナルのエアレリーズにより測定子の下降スピードが一定。 測...
株式会社フジワーク
10人以上が見ています
返信のとても早い企業
100.0% 返答率
4.6時間 返答時間
測定者によるバラツキを抑え、1μm以下の極薄フィルムも快適正確測定。オリジナルのエアレリーズにより測定子の下降スピードが一定。 測...
株式会社フジワーク
10人以上が見ています
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100.0% 返答率
4.6時間 返答時間
測定ヘッドの下降スピードを一定にする事で測定者による測定のバラツキを排除した測定器。極薄フィルムも快適正確測定。 測定者による...
株式会社フジワーク
20人以上が見ています
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100.0% 返答率
4.6時間 返答時間
測定ヘッドの下降スピードを一定にする事で測定者による測定のバラツキを排除した測定器。 オリジナルのエアレリーズにより測定子の下...
株式会社フジワーク
20人以上が見ています
最新の閲覧: 8時間前
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100.0% 返答率
4.6時間 返答時間
電池使用も可能なコンパクトタイプ厚み測定器。測定ヘッドの下降スピードを一定にする事で測定者による測定のバラツキを排除した測定器...
株式会社フジワーク
10人以上が見ています
返信のとても早い企業
100.0% 返答率
4.6時間 返答時間
オリジナルのエアレリーズにより測定子の下降スピードが一定。フィルムへのダメージを軽減し測定者によるバラツキを抑えます。 測定物...
株式会社フジワーク
10人以上が見ています
返信のとても早い企業
100.0% 返答率
4.6時間 返答時間
オリジナルのエアレリーズにより測定子の下降スピードが一定。フィルムへのダメージを軽減し測定者によるバラツキを抑えます。 測定物...
株式会社フジワーク
10人以上が見ています
返信のとても早い企業
100.0% 返答率
4.6時間 返答時間
オリジナルのエアレリーズにより測定子の下降スピードが一定。フィルムへのダメージを軽減し測定者によるバラツキを抑えます。 測定物...
株式会社フジワーク
20人以上が見ています
最新の閲覧: 1日前
返信のとても早い企業
100.0% 返答率
4.6時間 返答時間
コードレスで軽量な据え置き型測定器。電源がない場所でも簡単に0.1μm測定が可能です。測定ヘッドの下降スピードを一定にする事で測定の...
株式会社フジワーク
20人以上が見ています
最新の閲覧: 36分前
返信のとても早い企業
100.0% 返答率
4.6時間 返答時間
コードレスで軽量な据え置き型測定器。しかも低価格を実現。測定ヘッドの下降スピードを一定にする事で測定のバラツキを排除した測定器...
株式会社フジワーク
30人以上が見ています
最新の閲覧: 1日前
返信のとても早い企業
100.0% 返答率
4.6時間 返答時間
JIS一般不織布試験方法 (JISL1913:2010) に記載されている厚さ測定方法のA法と同じ測定が可能な不織布厚み測定器。測定子は直径56.4mmの...
エビデント・インスペクション・テクノロジーズ・ジャパン株式会社
70人以上が見ています
最新の閲覧: 12時間前
39DL PLUS™ ゲージは、要求の厳しい用途向けの精密または腐食厚さゲージとして機能します。Wi-Fi®、Bluetooth®、USB、RS-232、および取...
株式会社尾崎製作所
40人以上が見ています
■特徴 ・目量0.001mmタイプのシックネスゲージです。 ・精密小物部品、フィルム、特殊繊維等の厚み測定に適した測定器です。測定範囲0~1...
3種類の品番
株式会社尾崎製作所
30人以上が見ています
■特徴 ・精密部品の寸法検査、実験試料の厚み測定、ゴム、革、布、プラスチック製品の厚さ測定に適します。 ・テーブルが上下運動できる...
株式会社尾崎製作所
50人以上が見ています
■特徴 ・常に定圧にて測定できる厚み測定器です。 ・二つの現場で同じ測定力で測定したい場合に最適です。 ・各々のJIS規格に準拠した仕...
2種類の品番
株式会社尾崎製作所
190人以上が見ています
最新の閲覧: 1日前
■特徴 ・常に定圧にて測定できる厚み測定器です。 ・二つの現場で同じ測定力で測定したい場合に最適です。 ・各々のJIS規格に準拠した仕...
2種類の品番
株式会社尾崎製作所
240人以上が見ています
最新の閲覧: 17時間前
■特徴 ・常に定圧にて測定できる厚み測定器です。 ・二つの現場で同じ測定力で測定したい場合に最適です。 ・各々のJIS規格に準拠した仕...
2種類の品番
株式会社尾崎製作所
60人以上が見ています
最新の閲覧: 1日前
■特徴 ・ハンディタイプのデジタル式厚み測定器です。 ・デジタル表示なので、読取りが容易です。 ・小物部品、ゴム、紙などの厚みをレ...
2種類の品番
株式会社尾崎製作所
80人以上が見ています
最新の閲覧: 1時間前
■特徴 ・机上で測定する固定型のデジタル式厚み測定器です。 ・精密部品等の寸法検査に適しております。 ・お客様のご要望に合せた測定...
大塚電子株式会社
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100.0% 返答率
12.9時間 返答時間
OPTM (オプティム) は、顕微分光を用いた微小領域での絶対反射率測定により、高精度な膜厚・光学定数解析が可能な装置です。各種フィル...
大塚電子株式会社
30人以上が見ています
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100.0% 返答率
12.9時間 返答時間
インラインでのフィルム生産現場においてフィルムの膜厚を全幅・全長測定できる装置です。独自の分光干渉法に新たに開発した高精度膜厚...
大塚電子株式会社
20人以上が見ています
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100.0% 返答率
12.9時間 返答時間
■特長 半導体の研究開発や生産現場において、ウェーハ基板上の薄膜を全面測定できる装置です。独自の分光干渉法と新たに開発した高精度...
大塚電子株式会社
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12.9時間 返答時間
フィルムなどの研究開発や品質管理の抜き取り検査に、オフラインで簡単に面内膜厚ムラ検査が可能な装置です。全面を高速かつ高精度に測...
大塚電子株式会社
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12.9時間 返答時間
当社のMCPD seriesは、フレキシブルファイバーを採用することにより、In-Situからインラインまで様々な場所や用途への組込みが可能にな...
大塚電子株式会社
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12.9時間 返答時間
MCPD seriesインラインフィルム評価システムは、光学式のため非接触・非破壊での膜厚、濃度、色などの検査が可能です。測定可能膜厚範囲...
大塚電子株式会社
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100.0% 返答率
12.9時間 返答時間
顕微分光膜厚計OPTM seriesの高精度、微小スポットを生かし、ウェーハのパターン作成後の微小エリア測定など、インラインで膜厚情報を提...
大塚電子株式会社
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12.9時間 返答時間
ウェーハ等の研削研磨プロセスにおいて、非接触でウェーハや樹脂の厚みを超高速・高精度に測定を行います。 ■特長 ・光学式により非接...
大塚電子株式会社
10人以上が見ています
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100.0% 返答率
12.9時間 返答時間
高精度な光干渉法による膜厚測定を簡単操作で実現した小型で低価格な膜厚計です。必要な機器を本体部に収納したオールインワンタイプの...
大塚電子株式会社
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12.9時間 返答時間
波長依存性を有する多層膜測定を高精度に実現。 ■特長 ・分光干渉法を用いた膜厚計 ・高精度FFT膜厚解析エンジンを搭載 (特許 第48348...
大塚電子株式会社
10人以上が見ています
返信の比較的早い企業
100.0% 返答率
12.9時間 返答時間
高精度で持ち運び可能な膜厚計。 ・「測りたい“その場”ですぐに測れない」 ・「人によってバラつく測定結果」 ・「測定精度が悪い」 ...
大塚電子株式会社
30人以上が見ています
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返信の比較的早い企業
100.0% 返答率
12.9時間 返答時間
カラーフィルタの光学特性検査やガラス基板上膜の膜厚検査など FPD生産工程中のあらゆる検査に最適です。 ■特長 ・透過スペクトル測定...
大塚電子株式会社
20人以上が見ています
返信の比較的早い企業
100.0% 返答率
12.9時間 返答時間
パターンマッチ機能搭載、X-Y位置決め精度2um以下のシステムです。 ■特長 ・Φ300mmEFEMユニット予備ポートへのインテグレーションに対...
大塚電子株式会社
20人以上が見ています
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100.0% 返答率
12.9時間 返答時間
ウェーハ等の研削研磨プロセスを非接触でウェーハや樹脂の超高速リアルタイム・高精度に測定します。 ■特長 ・非接触、非破壊で厚み測...
株式会社アルネア
20人以上が見ています
【概要】 ・シリコン基板の厚みを高感度でリアルタイム測定 ・干渉計測のために高純度の波長可変光源を高速掃引 ・波長掃引方式のため、...
有限会社折りの丸新
10人以上が見ています
高精度厚み検査装置HY-CHECKERは、印刷・製本・紙加工の工程における中折れや角折れを検査します。 ■高速、高精度検査 ・厚み計測単位1...
厚み測定器とは、被測定物の厚みを測定するための機器です。
厚み測定器には被測定物に接触して厚みを測る接触タイプと、被測定物に接触せずに厚みを測る非接触タイプがあります。
厚み測定器は被測定物の厚みを測る機器なので、様々なものの厚みの測定に使用されています。被測定物に接触して厚みを測る接触タイプとして代表的なのは、ノギスや超音波厚み測定器です。ノギスはパイプの肉厚などを測定し、超音波厚み計は挟み込めないもの、例えばタンクの腐食検査などに使用されています。
一方、被測定物に接触することなく厚みを測る非接触タイプとしては、赤外線式や放射線式のものが挙げられます。赤外線式は、プラスチックフィルムの厚さなどの測定に使用され、放射線式は、冷間圧延金属板の厚さ測定などに利用されています。
厚み測定器には、素早く測定できる接触タイプと、光を当てることで非破壊測定できる非接触タイプがあります。接触タイプの厚み測定器は被測定物に機器を直接当てて厚みを測定する機器で、測定器の基準面から被測定物までの距離の演算 (相対値測定)をおこなっています。一方の非接触タイプの厚み測定器は、被測定物に接触すること無く厚さを測定し、被測定物の表面と相対向する裏面へのアプローチによる差分の検出から演算 (絶対値測定)して算出する仕組みです。
厚み測定器には、接触タイプと非接触タイプがあります。
接触タイプの厚み測定器には、安価かつ手軽で目視しやすいなどのメリットがあります。しかし、接触することから、被測定物の破損や変形による誤差などに注意が必要です。この接触タイプの厚み測定器として代表的なノギスと超音波厚み測定器について解説します。
ノギス
長さや外径、内径、深さ、段差を測定できる部位を持つ測定器で、本尺、副尺と呼ばれる目盛がついています。アナログ、ダイヤル、デジタルのものがあり、値の確認が容易なデジタル式が広く普及しています。操作は簡単で、ジョウをスライドさせて開き、被測定物をゆっくり挟み込んで数値を確認するだけです。
超音波厚み測定器
超音波厚み測定器では、被測定物に超音波を照射し、超音波の伝播時間をもとに対象物の厚みを計算します。超音波は探触子 (プローブまたはトランスデューサー) から照射され、探触子を被測定物表面に接触させます。
そして、探触子から照射した超音波が被測定物の接触面と反対側の面で反射し、探触子に戻ってくるまでの伝播時間を計測して厚みを算出する仕組みです。厚みは以下の式で算出されます。
厚みd = 1/2 ×被測定物の音速c×伝播時間t
このとき、伝播時間ｔは往復の時間であるため、1/2を乗じて片道の時間、つまり被測定物の厚みが計算可能です。
非接触タイプの厚み測定器は、大掛かりな装置になりますが、被測定物を傷つけることなく測定出来るのがメリットです。非接触タイプの厚み測定器としては、赤外線式と放射線式およびレーザ変位センサ式があります。
赤外線式
赤外線式の厚み測定器は、赤外線が特定の物質を透過する性質を利用して絶対値としての厚みを測定する測定器です。被測定物に赤外光を照射すると、赤外線照射面と相対向する裏面でそれぞれ反射します。これらの反射光をプローブで受光し、反射光の時間差 (干渉差) から厚みを計算します。
放射線式
放射線式厚み測定器は、放射線が被測定物に吸収される量を測定して厚みを算出します。この吸収は被測定物の色調の影響を受けないことから、放射線式厚み測定器は多くの製品で使用されています。
放射線の種類としてはα線、β線、γ線、X線などがありますが、原理はすべて同じです。放射線を被測定物に照射し、物体への吸収量 (減衰量) を測定し、厚みに換算します。放射線の種類は、被測定物に応じて適したものが選択されます。各放射線源に適した材料は以下のとおりです。
レーザ変位センサ式
レーザ変位センサ式厚み測定器では、レーザ変位センサを1台若しくは2台使用して厚さを算出しています。1台のレーザ変位センサを用いた場合は、被測定物の表面と裏面の反射光の差から厚さを算出します。2台のレーザ変位センサを使用する場合は、被測定物を挟み込んで透過光の差により厚さを算出する仕組みです。
2台のレーザ変位センサを使用する場合には、挟み込んだレーザ変位センサの上下それぞれの基準面から被測定物表面までの距離を測定し、基準面間の距離から引くことで被測定物の厚みを算出しています。
厚みd=基準面間距離d0-(基準面上〜被測定物表面までの距離d1+基準面下〜被測定物表面までの距離d2)
超音波厚み測定器においては、ゼロ点・第1回底面エコー方式 (パルス・エコー方式) と多重エコー方式 (エコー・エコー方式) 、表面エコー・第1回底面エコー方式 (インターフェース・エコー方式) があります。それぞれ特徴が異なるため、被測定物に合わせてどの方式を選ぶかが重要です。最も一般的なのは、パルス・エコー方式 (ゼロ点・第1回底面エコー方式) で、被測定物の表面状態があまり良くない場合や厚物、湾曲部なども測定可能です。
なお、超音波厚み測定器は、超音波を利用するため、発泡スチロールのような超音波が通過できない気泡を含む素材や、超音波が減衰してしまい受信できないゴムなどは測定できません。
また、空気の層は音響抵抗を持ち、探触子と被測定物間の超音波の伝播を阻害します。このため、接触触媒 (カプラント) と呼ばれる専用の液体を探触子と被測定物の間に塗布し、空気の音響抵抗を極力無くす必要があります。
参考文献
https://www.jemima.or.jp/tech/6-04-02-01.html
https://www.jstage.jst.go.jp/article/sicejl1962/12/9/12_9_709/_pdf/-char/ja
