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膜厚モニター FE-300F-膜厚モニター FE-300F
膜厚モニター FE-300F-大塚電子株式会社

膜厚モニター FE-300F
大塚電子株式会社

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この製品について

高精度な光干渉法による膜厚測定を簡単操作で実現した小型で低価格な膜厚計です。必要な機器を本体部に収納したオールインワンタイプの筺体を採用し、安定したデータの取得を実現しました。低価格でありながらも絶対反射率の取得により、光学定数の解析も可能です。

■特長

・小型・低価格・簡単操作で膜厚測定 ・分光器、光源の選択により測定膜厚範囲の選択可能 ・条件設定や測定操作が簡単。どなたでも手軽に測定可能 ・リアルタイムモニター機能やシュミレーション機能などを搭載 ・測定スポット径φ1.2mmで、3nm~35μmの薄膜から厚膜まで ・幅広い測定に対応

■測定項目

・絶対反射率測定 ・膜厚解析 (10層) ・光学定数解析 (n:屈折率、k:消衰計数) 測定対象

■機能性フィルム、プラスチック

透明導電膜 (ITO、銀ナノワイヤー) 、位相差フィルム、偏光フィルム、ARフィルム、PET、PEN、TAC、PP、PC、PE、PVA、接着剤、粘着剤、プロテクトフィルム、ハードコート、耐指紋剤など

■半導体

化合物半導体、Si、酸化膜、窒化膜、Resist、SiC、GaAs、GaN、InP、InGaAs、 SOI、Sapphire、など

■表面処理

DLCコート、防錆剤、防曇剤、など

■光学材料

フィルタ、ARコート、など

■FPD

LCD (CF、ITO、LC、PI) 、OLED (有機膜、封止剤) 、など

■その他

HDD、磁気テープ、建材、など

  • シリーズ

    膜厚モニター FE-300F

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膜厚モニター FE-300F 品番1件

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商品画像 品番 価格 (税抜) 測定波長範囲 測定膜厚範囲 (SiO2換算) スポット径 サンプルサイズ 測定時間 電源 寸法、重量
膜厚モニター FE-300F-品番-膜厚モニター FE-300F

膜厚モニター FE-300F

要見積もり

300~800nm

3nm~35μm

φ1.2mm

φ200×5 (H) mm

0.1~10s以内

AC100V±10% 300VA

280 (W) ×570 (D) ×350 (H) mm、24kg

フィルターに該当する他製品

厚み測定器の中で同じ条件の製品
測定対象: 薄膜対応型

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厚み測定器をフィルターから探すことができます

使用用途

#金属加工 #プラスチック成形 #フィルム検査 #紙製品検査 #半導体検査 #塗装管理 #ガラス製造 #電池製造 #医療機器製造

測定原理

接触式 非接触式 超音波式 渦電流式

測定方式

単点式 ラインスキャン式 面スキャン式

構造形態

卓上型 ハンディ型 インライン型

測定対象

薄膜対応型 厚板対応型

測定範囲 mm

0 - 1 1 - 10 10 - 100 100 - 500 500 - 1,000

分解能 秒

0 - 0.01 0.01 - 0.1 0.1 - 1 1 - 10 10 - 10,000

測定精度 mm

0 - 0.01 0.01 - 0.1 0.1 - 1

繰り返し精度 μm

0 - 0.1 0.1 - 1 1 - 5 5 - 10

重量 kg

0 - 1 1 - 10 10 - 500

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この商品の取り扱い会社情報

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12.9時間

会社概要

大塚電子株式会社は大塚製薬株式会社の子会社で、計測機器及び検査機器などの製造メーカーです。 赤外分光分析装置・ディスクリート方式臨床化学自動分析装置などのME機器、ゼータ電位測定システム・多検体ナノ粒子径測定システムな...

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  • 本社所在地: 大阪府

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