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分光干渉式ウェーハ厚み計 SF-3取扱企業
大塚電子株式会社カテゴリ
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厚み測定器の製品229点中、注目ランキング上位6点
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次の条件に該当する商品を1件表示しています
| 商品画像 | 品番 | 価格 (税抜) | サイズ | シリコン測定厚み範囲 | 樹脂厚み範囲 | 最小サンプリング周期 | 繰り返し精度 | 測定スポット径 | 測定距離 | 光源 | 解析方法 | インターフェイス | 電源 | オプション |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|
分光干渉式ウェーハ厚み計 SF-3/200 |
要見積もり |
123 (W) x224 (D) ×128 (H) mm |
6~400µm |
10~1,000μm |
5kHz (200μsec) |
0.01%以下 |
φ20µm以上 |
50、80、120、150、200mm |
半導体光源 (レーザークラス3B製品) |
FFT解析 |
LAN、I/O入出力端子 |
DC24V仕様 (AC電源ユニット別売り) |
各種距離測定プローブ、電源ユニット (AC用) 、アルミリファレンス、測定光検出ターゲット、ファイバークリーナー |
厚み測定器の中で同じ条件の製品
測定対象: 薄膜対応型
厚み測定器をフィルターから探すことができます
使用用途
#金属加工 #プラスチック成形 #フィルム検査 #紙製品検査 #半導体検査 #塗装管理 #ガラス製造 #電池製造 #医療機器製造測定原理
接触式 非接触式 超音波式 渦電流式測定方式
単点式 ラインスキャン式 面スキャン式構造形態
卓上型 ハンディ型 インライン型測定対象
薄膜対応型 厚板対応型測定範囲 mm
0 - 1 1 - 10 10 - 100 100 - 500 500 - 1,000分解能 秒
0 - 0.01 0.01 - 0.1 0.1 - 1 1 - 10 10 - 10,000測定精度 mm
0 - 0.01 0.01 - 0.1 0.1 - 1繰り返し精度 μm
0 - 0.1 0.1 - 1 1 - 5 5 - 10重量 kg
0 - 1 1 - 10 10 - 500
