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ケルビンプローブのメーカー8社一覧や企業ランキングを掲載中！ケルビンプローブ関連企業の2025年4月注目ランキングは1位:株式会社精研、2位:理研計器株式会社、3位:株式会社東陽テクニカとなっています。 ケルビンプローブの概要、用途、原理もチェック！
ケルビンプローブとは、仕事関数を測定する手法であり、顕微鏡の測定手法の1つです。
試料表面に金属製のプローブを近づけて試料とプローブの間の仕事関数の差に起因する接触電位差を測定します。仕事関数が既知のプローブを用いることで、試料表面の仕事関数を求めることが可能です。
2025年4月の注目ランキングベスト6
| 順位 | 会社名 | クリックシェア |
|---|---|---|
| 1 | 株式会社精研 |
29.4%
|
| 2 | 理研計器株式会社 |
23.5%
|
| 3 | 株式会社東陽テクニカ |
17.6%
|
| 4 | 株式会社喜多製作所 |
11.8%
|
| 5 | 株式会社東京インスツルメンツ |
11.8%
|
| 6 | KP Technology Ltd. |
5.9%
|
45 点の製品がみつかりました
45 点の製品
株式会社東京インスツルメンツ
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最新の閲覧: 20分前
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■概要 ケルビンプローブの老舗メーカー・英国KP Techonology社が開発した、仕事関数・表面電位マッピング装置です。 大気中・非破壊・...
株式会社東京インスツルメンツ
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■概要 超高真空 (UHV) 環境に対応したケルビンプローブ (KP) です。既存の真空チャンバーに接続し、仕事関数・表面電位の測定が可能です...
ブルカージャパン株式会社
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最新の閲覧: 6時間前
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■Dimension シリーズ Bruker のDimension Icon® 原子間力顕微鏡 (AFM) システムは、科学技術・産業分野のナノスケール研究者に、最高の...
8種類の品番
東洋電子技研株式会社
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■概要 同軸型4端子プローブを使用しケルビン測定を可能にしたソケットです。
オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社
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■ナノスケール表面観察 WITecの原子間力顕微鏡alpha300Aは、豊富なオプションがある研究用グレードの光学顕微鏡に組み込まれた信頼性が...
株式会社サンコウ電子研究所
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■特長 ・4探針プローブ (ケルビン型) を採用。裏面や内層の影響を受けず、両面基板や多層基板も裏面や内層の影響を受けずに測定可能。 ...
日本カンタム・デザイン株式会社
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最新の閲覧: 34分前
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Nanosurfの新しいフラッグシップ装置であるDriveAFMは、最新の技術を駆使し、高い安定性と性能を実現しています。 現在、そして将来のよ...
パーク・システムズ・ジャパン株式会社
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■研究開発を加速する次世代テクノロジー ・研究用AFM史上初のデュアルカメラシステムを採用 ・機械学習の採用による自動最適化機能 ■プ...
大木理工機材株式会社
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■概要 大気中で仕事関数、イオン化ポテンシャルを非接触で測定します。励起光 (3.4～7eV) を照射し、試料表面に接近させたΦ2mmのプロー...
株式会社日本レーザー
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CrabiAFMは、コンパクトで低価格な簡易原子間力顕微鏡 (AFM) です。リサーチ用途、ナノ教育、またはすでにAFM経験をお持ちの方のサブ機...
株式会社マイセック
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光学顕微鏡で得られないマイクロメートルからナノメートルの表面3次元形状観察と同時に、物性 (機械･電磁気特性) 観察が可能です。 ■用...
株式会社東京インスツルメンツ
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■概要 大気中で仕事関数、イオン化ポテンシャルを非接触で測定します。励起光 (3.4～7eV) を照射し、試料表面に接近させたΦ2mmのプロー...
オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社
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■特徴 ・Cypher S－超高分解能、高速スキャン、および操作モード一式を備えた Cypher AFMファミリーのベースモデル ・Cypher ES－Cypher...
4種類の品番
株式会社北海光電子
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■TOF-e型仕事関数測定装置 TOF-MSに続き電子の飛行時間測定を実現 ■概要 新機能材料・物質の基礎特性取得 界面・表面の相違変化指標 電...
日本カンタム・デザイン株式会社
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Nanosurf社製 NaioAFMは、大学や専門学校におけるナノテクノロジー教育や、研究開発または品質管理の現場で、表面形状を短時間に簡潔に...
パーク・システムズ・ジャパン株式会社
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Park NX10は、最高のナノスケール解像度で信頼あるデータを提供します。サンプルのセッティングからイメージング、測定、解析に至るまで...
ブルカージャパン株式会社
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原子間力顕微鏡 (マテリアルAFM) 小型プラットフォームです。
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ブルカージャパン株式会社
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ライフサイエンス用原子間力顕微鏡 JPK Bio AFM ■ライフサイエンス・ソフトマテリアル研究へ最短のアプローチ Brukerは、ライフサイエ...
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オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社
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■概要 Jupiter XRは大型試料対応の原子間力顕微鏡 (AFM/SPM) で、原子・分子レベルの「超高分解能」に加え、「高速スキャン」「広域スキ...
ブルカージャパン株式会社
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■セルメカニクス研究ツール 光ピンセット 分子・細胞・マイクロレオロジープロセスの定量化：倒立顕微鏡とシームレスなセットアップが...
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AutoAFM (大型自動原子間力顕微鏡) です。 ■300mmウェハ対応 大型AutoAFM (自動原子間力顕微鏡) InSight AFP AAFMは、300mmウェハに...
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■概要 ・MFP-3D AFM/SPM原子間力顕微鏡 ファミリーは、幅広い予算に対応した、大きなサンプルサイズの測定が可能な機種であり、多彩なア...
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ブルカージャパン株式会社
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■フォトマスク用 AutoAFM (全自動原子間力顕微鏡) Insight AFP PMはフォトマスク用の全自動原子間力顕微鏡です。基本機能はInsight AFP...
株式会社東京インスツルメンツ
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■概要 試料環境 (温度・湿度・酸素濃度) を制御しながら、in situで金属などの表面電位・仕事関数変化を高感度にリアルタイムモニタリン...
ケルビンプローブとは、仕事関数を測定する手法であり、顕微鏡の測定手法の1つです。
試料表面に金属製のプローブを近づけて試料とプローブの間の仕事関数の差に起因する接触電位差を測定します。仕事関数が既知のプローブを用いることで、試料表面の仕事関数を求めることが可能です。
試料表面の仕事関数は、薄膜の膜質や不純物の有無によって変化します。太陽電池やセンサーにおいて薄膜の膜質や高次構造は、デバイスの特性に影響を与える可能性があります。
種々の条件で成膜した薄膜をケルビンプローブ法で測定することで、膜構造と特性の相関解析などを行うことが可能です。
ケルビンプローブを用いた測定は金属、半導体材料で用いられることが多いです。シリコン太陽電池や有機薄膜太陽電池、有機EL、電極表面の解析でケルビンプローブを用いた測定が行われます。
ケルビンプローブでは表面の仕事関数をマッピングすることが可能となるため、顕微鏡で測定した表面の画像と合わせて解析を行います。
ケルビンプローブ法で仕事関数のマッピングを行うことで、金属の腐食部分の特定も行うことが可能です。腐食等の化学変化が起こった箇所では仕事関数が変化しているため、試料のどこで予期せぬ反応が起こっているかマッピングすることが可能になります。
ケルビンプローブ法は原子間力顕微鏡 (AFM) を応用した測定手法であり、マイクロメートルのオーダーの空間分解能を持っています。ケルビンプローブ法とは、金属製のプローブを試料表面に接触させる手法です。
試料表面にプローブが接触したときに電子の移動が起こり、フェルミ準位が変化するため試料表面の電位が変化します。この電位の変化量はプローブと試料の仕事関数に依存する値であるため、仕事関数が既知のプローブを用いることで試料表面の仕事関数を求められます。
試料全体に対してプローブを接触させることで、薄膜内の仕事関数をマッピングすることが可能となり、仕事関数の変化から腐食や膜質の変化が起こっている箇所の特定が可能です。
ケルビンプローブ法では、試料を非破壊で測定することが可能です。また有機物、無機物いずれの薄膜でも測定ができます。
そのため、多層膜の断面で各層の仕事関数を測定したり、薄膜成長過程での仕事関数の測定を行ったりすることもあります。その他、表面の仕事関数の変化から触媒表面で起こる化学反応解析など、物理化学の基礎的な研究に用いられることも多いです。
仕事関数とは、個体内の電子を固体の外に取り出すために必要な最低限のエネルギーです。電子は固体中に多数あり、最低運動エネルギーの真空準位から順次高いエネルギーまで幅広く持っています。最上部はフェルミ準位に該当し、この真空準位からフェルミ準位までの差が仕事関数です。
放電電極やプラズマディスプレイパネル等のデバイスは固体内部から電子を取り出す必要があり、仕事関数が重要な役割を果たします。仕事関数はエレクトロニクスデバイスのキーワードです。
物質内の電子は、温度に応じた種々のエネルギーを持ちます。電子が任意の温度で持つエネルギー準位を占める確率を表したものがフェルミ・ディラックの分布関数です。占有確率が0.5になるエネルギー準位をフェルミ準位と呼びます。
単独の原子が保有する電子のエネルギー準位は離散的であるのに対して、複数原子から成る物体では電子の取りうるエネルギー準位に幅があります。電子が持つことができるエネルギー準位には制限があるため、フェルミ準位とエネルギー準位の構造で導体・半導体・絶縁体の区別が生じています。
参考文献
https://www.tokyoinst.co.jp/products/detail/work_function_surface_potential_measurement/KT01/index.html
https://www.toyo.co.jp/material/products/detail/skp470.html
http://microscopy.or.jp/jsm/wp-content/uploads/publication/kenbikyo/47_1/pdf/47-1-18.pdf
