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次世代半導体の機能試験に対応し、従来よりも約3割大型化したテスト基板(検査装置用基板)の量産をスタートしました。データ通信の高速化・大容量化、AIの普...
2023年2月16日
● プローブカードの針圧/接触抵抗/針先座標/高さバラツキ/針長さ/などの測定ができます。● 予算に合わせて必要な機能を選択搭載することができるカスタ...
2024年5月2日