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X線分析装置 メーカー12社

X線分析装置のメーカー12社一覧企業ランキングを掲載中!X線分析装置関連企業の2025年5月注目ランキングは1位:株式会社日立ハイテクサイエンス、2位:日本電子株式会社、3位:株式会社島津製作所となっています。 X線分析装置の概要、用途、原理もチェック!

12X線分析装置メーカー

X線分析装置 2025年5月のメーカーランキング


102 点の製品中 3ページ目

102 点の製品中 3ページ目

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株式会社リガク

全反射蛍光X線分析装置 軽元素Naから重元素Uまでの汚染元素を極微量で分析 TXRF-V310

10人以上が見ています

100.0% 返答率

115.0時間 返答時間

■ロータ型高出力X線発生装置と新設計入射X線モノクロメータを採用 ダイレクトTXRF測定法で遷移金属LLD10^8atoms/cm2レベルを実現。封入...


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株式会社リガク

半導体評価用波長分散型蛍光X線分析装置 薄膜評価用蛍光X線分析装置 AZX 400

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■薄膜評価用蛍光X線分析装置 半導体材料として重要なB、C、N、Oを含む、Be~Uまでの全元素を1台でカバー ■波長分散型蛍光X線分析 (WDX)...


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株式会社リガク

結晶方位測定装置 自動X線単結晶方位測定装置 FSAS III

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100.0% 返答率

115.0時間 返答時間

■単結晶材料の切り出し方位を、ワイヤソーその他の切断機に正確に伝えます Si、Ge、GaAs、SiC、水晶、LN、LT、サファイヤ、ルチル、蛍石...


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株式会社リガク

波長分散型蛍光X線分析装置 蛍光X線硫黄分分析計 Micro-Z ULS

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ASTMD2622による石油燃料中の超低硫黄測定ができる卓上波長分散型蛍光X線分析装置 ■硫黄の高感度分析を追求した最新光学系を搭載 ・新...


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株式会社リガク

反射率、エネルギー分散型蛍光X線分析、光学ツール X線膜厚・密度測定装置 XHEMIS EX-2000

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■X線膜厚・密度測定装置XHEMISEX-2000 蛍光X線 (XRF) およびX線反射率 (XRR) による非接触、非破壊な膜厚・密度測定装置 ■XRR新光学系...


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株式会社リガク

CD SAXS XTRAIA CD シリーズ 斜入射X線CD計測ツール XTRAIA CD-3010G

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115.0時間 返答時間

■斜入射X線CD計測ツール ・GISAXSによるCD測定、X線反射率 (XRR) 測定による膜厚、密度、および粗さの測定などが可能です。 ・300mmウェ...


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株式会社リガク

エネルギー分散型蛍光X線分析装置 非常に小型で扱いやすい、エネルギー分散型蛍光X線分析装置 NEX QC

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115.0時間 返答時間

■超コンパクト 331mm (W) ×432mm (D) ×376mm (H) 重さ:16kgデータ解析用コンピューター、サーマルプリンターを内蔵。 ■様々なサンプル...


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株式会社リガク

高分解能X線回折装置 XTRAIA XDシリーズ インラインHRXRD/XRR計測ツール XTRAIA XD-3200

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115.0時間 返答時間

■インラインHRXRD/XRR計測ツール ブランケットおよびパターン化されたウェーハのための高分解能XRDエピタキシャル膜特性評価。XTRAIAXD-...


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株式会社リガク

X線回折装置 全自動多目的X線回折装置 SmartLab SE

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■リガクの分析ノウハウを凝縮した「ガイダンス」機能を搭載し、究極の自動化を実現 経験がなくてもさまざまな粉末X線回折測定ができる。...


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株式会社リガク

X線検査装置 モバイル型イメージングプレートスキャナー HD-CR 35 NDT

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■高い検査精度が求められる自動車・航空機部品検査等、幅広い用途に適合 世界基準を満たし、圧倒的な販売実績を誇る、ドイツDÜRRNDT社の...


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株式会社リガク

X線検査装置 靴、アパレル、雑貨、バッグの異物検査装置RVシリーズ X線異物検査装置 RV-5020DV

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■靴、アパレル、雑貨、バッグの異物検査装置RVシリーズ 靴、アパレル、雑貨、バッグの異物検査装置RVシリーズに2方向2画面同時検査装置...


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株式会社リガク

全反射蛍光X線分析装置 ウェーハ表面上の汚染を非破壊・非接触で高感度に分析 TXRF 3760

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■ロータ型高出力X線発生装置と新設計入射X線モノクロメーターを採用 ダイレクトTXRF測定法で遷移金属LLD10^8atoms/cm2レベルを実現。封...


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単結晶X線構造解析装置 2波長線源対応回転対陰極線源搭載 超高速・超高精度 単結晶X線構造解析装置

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■波長の異なる線源を1台のシステムに搭載したXtaLABSynergyシリーズの最上位機種 2波長線源を搭載した単結晶X線構造解析装置は、無機物...


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株式会社リガク

携帯型蛍光X線分析計 Niton 携帯型成分分析計 XL2/XL3t/XL5シリーズ (鉱物・土壌・各種素材用)

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115.0時間 返答時間

■Niton携帯型成分分析計XL2/XL3t/XL5シリーズ (鉱物・土壌・各種素材用) 微量元素・軽元素対応機種がさらに高感度化され、目的元素を短...


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波長分散型蛍光X線分析装置 走査型蛍光X線分析装置 充実した安心・安全の機構や機能を搭載 ZSX Primus III NEXT

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上面照射方式を採用し、生産管理分析に威力を発揮できる走査型蛍光X線分析装置 ■上面照射方式 試料の上方からX線を照射する方式のため...


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株式会社リガク

反射率、エネルギー分散型蛍光X線分析、光学ツール ハイブリッドXRFおよび光計測FABツール ONYX 3000

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■ハイブリッドXRFおよび光計測FABツール 300mm、200mmウェーハ上の各種薄膜の膜厚・組成を、同時に非破壊、非接触で分析可能なエネルギ...


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株式会社リガク

反射率、エネルギー分散型蛍光X線分析、光学ツール インラインデュアルヘッドマイクロスポットXRF ONYX 3200

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■非破壊ウェーハ検査と計測 ・デュアルX線源 (ポリキャピラリー/モノクロマチック) ・300mmウェーハまで対応 ■概要 ONYX3200は、市場...


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株式会社リガク

エネルギー分散型蛍光X線分析装置 進化した元素分析装置 NEX CG II Series

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次世代偏光光学系エネルギー分散型蛍光X線分析装置 ■進化した元素分析装置 NEXCGIISeriesは、分析精度を重視した偏光光学系のエネルギ...


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株式会社リガク

単結晶X線構造解析装置 マイクロフォーカス封入管システム 搭載単結晶X線構造解析装置 XtaLAB Synergy-i

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■低分子試料の構造解析のための単結晶X線回折装置 XtaLABSynergy-iは、リガク独自の高精度κゴニオメーターとHPC (ハイブリッドフォトン...


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株式会社リガク

高分解能X線回折装置 XTRAIA XDシリーズ インラインHRXRD/XRR計測ツール XTRAIA XD-3300

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最新の閲覧: 8時間前

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■インラインHRXRD/XRR計測ツール ブランケットおよびパターン化されたウェーハのための高分解能XRDエピタキシャル膜特性評価。XTRAIAXD-...


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反射率、エネルギー分散型蛍光X線分析、光学ツール インラインX線膜厚・密度モニター XTRAIA MF-3000 (MFM310)

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115.0時間 返答時間

■パターンウェーハ対応の蛍光X線 (XRF) 、X線反射率 (XRR) およびX線回折 (XRD) によるインライン膜厚・密度モニター リガクのXTRAIAMF-...


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単結晶X線構造解析装置 デスクトップ単結晶X線構造解析装置 XtaLAB mini II

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1光子検出型ハイブリッドピクセル検出器を搭載した卓上型単結晶X線構造解析装置 ■最先端2次元半導体検出器を搭載 XtaLABminiIIは、光子...


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単結晶X線構造解析装置 高分解能光子計数X線検出器 EIGER2 R Series (旧製品)

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■EIGER2Rseries EIGER2R検出器には、CdTeまたはSiセンサーが付属しています。高圧や電荷密度の研究など、高エネルギー (Agなど) 放射線...


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高分解能X線回折装置 薄膜特性を分析するためのX線回折を使用したインラインモニタリングおよび制御 TFXRD シリーズ TFXRD-300

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■300mmウェーハのフルマッピング用X線回折 (XRD) システム TFXRD-300は、大口径ウェーハ上の薄膜の測定を目的とした専用のXRDツールであ...


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X線検査装置 ハイコントラストモデル 1417WGB/1012WGB/0412WGB/0412DGA

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ピクセルサイズ127μm、防塵、防水を兼ね備え、オールインパッケージ ■「ガス工作物技術基準の解釈例」にデジタルラジオグラフィーの追...


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波長分散型蛍光X線分析装置 Supermini200

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■高出力200WのX線管を搭載し鉱物資源分析から環境分析まで広範囲なアプリケーションに対応 コンパクトサイズでありながら高出力200WのX...


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株式会社リガク

半導体評価用波長分散型蛍光X線分析装置 薄膜評価用蛍光X線分析装置 WaferX 310

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115.0時間 返答時間

■300mm、200mmウェーハ上の各種薄膜の膜厚・組成を、同時に非破壊、非接触で分析可能な波長分散型蛍光X線分析装置 (WD-XRF) GEM300に対...


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株式会社リガク

結晶方位測定装置 自動ウェーハ結晶面方位測定X線装置 FSAS II

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115.0時間 返答時間

ウェーハの主面の切断角度、OF・ノッチ位置を自動で測定する装置です。 ■特長 ・真空チャック方式で試料を保持します。0°,90°,180°,270...


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株式会社リガク

X線検査装置 靴、アパレル、雑貨、バッグの異物検査装置RVシリーズ X線異物検査装置 RV-6030DV

100.0% 返答率

115.0時間 返答時間

■2方向同時照射2画面表示機能 ラインセンサーを2つ搭載し、1回の検査で0°と25°の撮影画像が取得できます。また、2画面個別に明るさやコ...


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株式会社リガク

エネルギー分散型蛍光X線分析装置 NEX QC+に半定量分析等,高機能ソフトウェアを搭載したPCモデル NEX QC+ QuantEZ

100.0% 返答率

115.0時間 返答時間

■超コンパクト 331mm (W) ×432mm (D) ×376mm (H) 重さ:16kg ■高機能ソフトウェア搭載 半定量分析など高機能ソフトウェアを搭載したPC...


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