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イオン測定器のメーカー9社一覧や企業ランキングを掲載中！イオン測定器関連企業の2025年6月注目ランキングは1位:株式会社トラストレックス、2位:マイクロコントロールシステムズ株式会社、3位:日本システムデザイン株式会社となっています。 イオン測定器の概要、用途、原理もチェック！
イオン測定器とは、様々なイオンを測定する機器の総称です。
一般的にイオンカウンタが空気中のイオンを測定する装置を指すのに対し、イオン測定器は鉱物専用のイオン測定器や、水溶液中のイオン濃度を測定する装置など、専門的な装置が含まれます。
しかし、専門分野を除く一般的な解釈としては、イオンカウンタとイオン測定器はほぼ同義です。そのため、本記事では鉱物専用及び水溶液中のイオン濃度を測定する装置について記載します。
2025年6月の注目ランキングベスト5
| 順位 | 会社名 | クリックシェア |
|---|---|---|
| 1 | 株式会社トラストレックス |
28.6%
|
| 2 | マイクロコントロールシステムズ株式会社 |
28.6%
|
| 3 | 日本システムデザイン株式会社 |
14.3%
|
| 4 | メトラー・トレド株式会社 |
14.3%
|
| 5 | コムシステム株式会社 |
14.3%
|
項目別
使用用途
#水質管理
#環境調査
#化学分析
#教育実験
#工業排水
#飲料検査
測定範囲 mg/L
0 - 1
1 - 10
10 - 100
100 - 1,000
分解能 mg/L
0.01 - 0.02
0.02 - 0.2
精度 mg/L
0 - 1
1 - 5
5 - 10
質量 g
60 - 380
380 - 1,300
18,000 - 135,000
11 点の製品がみつかりました
11 点の製品
株式会社東建エンジニアリング
380人以上が見ています
最新の閲覧: 23時間前
100.0% 返答率
38.5時間 返答時間
地下水、河川やダム貯水池、湖沼および沈砂池などのpH (水素イオン濃度) を長期連続計測するためのpH (水素イオン濃度) 計です。 ■...
科健化学株式会社
200人以上が見ています
最新の閲覧: 10時間前
返信の比較的早い企業
100.0% 返答率
12.3時間 返答時間
■製品概要 アニオンとカチオンを同時に検出。装置は自動メンテナンス、自動クリーニング。 『SH-WIC5000』はフルオートマチックでイン...
ハンナインスツルメンツ・ジャパン株式会社
510人以上が見ています
最新の閲覧: 5分前
100.0% 返答率
258.4時間 返答時間
■最新型の吸光光度計シリーズ ・ポータブルのデジタル吸光光度計でアルミニウムイオンを測定 (0.00～1.00 mg/L) ・測定に使用する専用...
ハンナインスツルメンツ・ジャパン株式会社
450人以上が見ています
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100.0% 返答率
258.4時間 返答時間
■最新型の吸光光度計シリーズ ・HI 97733はポータブルのデジタル吸光光度計で高濃度のアンモニウムイオンを測定します。 (0.0～100.0 mg...
ハンナインスツルメンツ・ジャパン株式会社
250人以上が見ています
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100.0% 返答率
258.4時間 返答時間
■手のひらサイズの Checker HC シリーズ アンモニウムイオンの測定に 試薬キットに代わるデジタル測定機です。目視検査ではないので誰が...
コスモトレーディング株式会社
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返信の比較的早い企業
4.0 会社レビュー
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22.2時間 返答時間
Eco ICは、水分析や教育向けに最適なエントリーモデルのイオンクロマトグラフです。Eco ICは280万円～ (税抜き価格) で、検出器、ソフト...
株式会社コクゴ
230人以上が見ています
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返信の比較的早い企業
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パックテスト 簡易水質検査器具 銀 WAK-Ag ■特長 ・容器と、試験管を兼ねた小さくて軽いポリエチレンチューブの中に調合された試薬が封...
メトロームジャパン株式会社
140人以上が見ています
最新の閲覧: 15分前
返信の比較的早い企業
100.0% 返答率
22.6時間 返答時間
■概要 Eco ICは、水分析や教育向けに最適なエントリーモデルのイオンクロマトグラフです。Eco ICは280万円～ (税抜き価格) で、検出器、...
株式会社柳生商会
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返信の早い企業
4.5 会社レビュー
100.0% 返答率
8.2時間 返答時間
株式会社柳生商会
320人以上が見ています
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返信の早い企業
4.5 会社レビュー
100.0% 返答率
8.2時間 返答時間
■特徴 ・外径約4mmのガラス管内に反応試薬を吸着した検知剤を充填しています。 ・排水の検査に使用できます。 ■測定方法 ・浸漬法：試...
株式会社アナテック・ヤナコ
320人以上が見ています
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本装置は、いずれも試料を前処理した後イオン電極による測定法を間欠測定方式により全自動化したもので、薬品使用量を著しく削減する一...
イオン測定器とは、様々なイオンを測定する機器の総称です。
一般的にイオンカウンタが空気中のイオンを測定する装置を指すのに対し、イオン測定器は鉱物専用のイオン測定器や、水溶液中のイオン濃度を測定する装置など、専門的な装置が含まれます。
しかし、専門分野を除く一般的な解釈としては、イオンカウンタとイオン測定器はほぼ同義です。そのため、本記事では鉱物専用及び水溶液中のイオン濃度を測定する装置について記載します。
イオン測定器は、放射性物質を含む鉱物の周囲のイオン濃度の測定に用いられます。このような場合に使用されるのが、鉱石専用型のイオン測定器です。鉱物専用型の測定器は空気の流れ等の影響を受けず、測定ごとのバラツキも少ないため安定した測定ができます。鉱物のイオン測定の用途は研究、新しい建築素材などを検討、鉱物ブレスレットなどの作成などです。
鉱物以外では、水溶液中のイオン濃度にイオン測定器が用いられます。例えば、排水設備から排出される不純物濃度の管理や、商品開発 (Ag+など) において、イオンを含む材料を使用する際の測定器として利用されています。
鉱物専用型は、鉱物から放出される放射線を検出し、イオン量に換算します。測定器の下に測定物を置いてから数十秒の測定時間を取り、その間検出されたイオンの数の平均値を表示するタイプが市販されています。測定原理から、放射線が出ていない鉱物に対しては測定できません。
水溶液中のイオン濃度の測定の原理は、1975年に発表された高速イオン交換クロマトグラフィーが起源です。比較的歴史の浅い分野ですが、わずか数十年の間に多種多様な検出方法が開発されてきました。現在、市販品で最も一般的な装置として小型化可能な吸光光度法を用いたものがあります。
吸光光度 (UV) 測定器には3種類あり、試料のイオンのUV吸収の有無で使い分けます。
直接UV法は溶離液にUV吸収のない、あるいは吸収の小さいものを用い、UV吸収を持つ試料イオンを測定します。
間接UV法はUV吸収を持つ溶離液を用い、UV吸収を持たない試料イオンを分析する場合に用いられます。
ポストカラム反応一吸光光度法は試料イオンを分離した後に反応試薬と混合し、UV吸収を持つ化合物に変えてから検出します。
直接UV法、及び間接UV法は比較的手軽に利用できますが、ポストカラム反応一吸光光度法は試料を別に準備するという手間がかかるため、一般向けではありません。
イオン測定器によるイオン濃度の測定可能範囲は、基本的に10の-1乗mol/Lから10の-7乗mol/Lの範囲です。ただし、イオン電極の種類や構造によって測定範囲は異なるため、測定をする際には標準液による基準を設けたうえで試料を測定する必要があります。
イオン測定を行う際には、以下5つの外部ファクターが測定に影響を及ぼします。
pH (potential of hydrogen) ファクター
イオン電極の種類や構造によっては、イオン応答部分の成分がサンプルpHの影響を受け、イオン電極が溶解もしくは電極電位が変化する場合があります。さらに、pHの影響によりイオン電極の感度が低下したり、検量線が平行移動するケースもあります。
そのため、イオン測定ができるサンプルpHレンジには限りがあると考えるべきです。イオン測定が可能なサンプルpHレンジは、一般的に対象イオン濃度が低くなるにつれて狭くなります。
温度ファクター
イオン電極により測定される電位勾配は、サンプル自体の液温の影響を受けて変化が生じます。そのため、基準となる標準液の液温とサンプルの液温は等しくしなければなりません。基準液とサンプルの液温が異なる場合は、測定結果に影響を及ぼします。
攪拌ファクター
サンプル液の攪拌状態は、測定結果の電極電位、応答速度等に対して影響を及ぼします。そのため、測定自体に悪影響を及ぼさない程度の一定の速度で攪拌し測定しなければなりません。
光ファクター
イオン電極の中には、光の影響により電位が変化し測定結果に影響のある電極があります。そのため、光による影響を受けるイオン電極で測定を行う際は、遮光ビーカーを用いて遮光しなければなりません。
共存イオンファクター
イオン電極はイオン選択性に富んでおりますが、全てのイオンから影響を受けないイオン電極は存在しません。そのため、イオン電極に対する共存イオンの影響を考慮し、その影響を少しでも回避するような方策を実施すべきです。
参考文献
https://kikakurui.com/b9/B9929-2006-01.html
https://www.n-ion.com/product/counter/eb-17/#11
https://www.jstage.jst.go.jp/article/jswe1978/11/2/11_2_79/_pdf
