パーク・システムズ・ジャパン株式会社の取り扱い製品
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37 点の製品がみつかりました
37 点の製品
パーク・システムズ・ジャパン株式会社
最も正確で使いやすい原子間力顕微鏡 (AFM) Park NX10
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Park NX10は、最高のナノスケール解像度で信頼あるデータを提供します。サンプルのセッティングからイメージング、測定、解析に至るまで...
パーク・システムズ・ジャパン株式会社
超小型でハイエンドなアクティブ防振 Accurion Nano Series
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Nanoシリーズは、ハイエンドのアクティブ防振と超小型の寸法を組み合わせて、非常に小型で軽量なアプリケーションの防振に採用されてい...
2種類の品番
パーク・システムズ・ジャパン株式会社
エレメントベースのモジュール式防振システム Accurion Vario Series
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Varioシステムは、エレメントベースのモジュール式防振システムで、少なくとも2つの防振エレメントと外部コントロールユニットで構成さ...
4種類の品番
パーク・システムズ・ジャパン株式会社
原子間力顕微鏡と白色光干渉技術を融合させた世界初のハイブリッド半導体計測装置 Park NX-Hybrid WLI
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Park NX-Hybrid WLIは、半導体デバイスの研究開発/生産現場における計測、品質保証、前工程のプロセスコントロール、後工程の高度なパッ...
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コンパクトなベンチトップ型の除振台 Accurion i4 Series
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i4は、最先端のアクティブ防振システムです。高解像度の計測機器を建物の振動やその他の外乱から隔離するのに最適なシステムで、6方向す...
3種類の品番
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自動欠陥検査機能を搭載した唯一のウェハーファブ用AFM Park NX-Wafer
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Park NX-Waferは、半導体および関連ファブリケーション向けの業界をリードする自動AFM測定システムです。 ウェハーファブの検査と解析...
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アクティブ除振台 ワークステーション_Vario
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ワークステーション_Varioは、作業面として光学ブレッドボードを埋め込んだスチールフレームが付属しています。拡張性として、周囲のフ...
3種類の品番
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アクティブ除振台 ワークステーション i4
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ワークステーション_i4は、光学顕微鏡/顕微鏡/SPMの組み合わせで使用することを想定して設計されています。表面は傷のつきにくいMDFプレ...
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AFMによるEUVマスクリペア Park NX-Mask
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Park NX-Mask は、デバイスの微細化、フォトマスクの複雑化に対応した新世代のフォトマスクリペアシステムです。Park NX-Maskは、最先端...
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次世代の新機能を搭載した自動化原子間力顕微鏡 Park FX40
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■研究開発を加速する次世代テクノロジー ・研究用AFM史上初のデュアルカメラシステムを採用 ・機械学習の採用による自動最適化機能 ■プ...
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故障解析と大型試料における研究開発のための最先端ナノ形状計測ツール Park NX20
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FAエンジニアとして結果を見出すことが求められますが、機械によるエラーやミスは当然許されません。Park NX20は、世界で最も正確な大型...
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メディアおよび基板製造に最適なAFM Park NX-HDM
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ナノスケールの欠陥を特定する作業は、メディアやフラットなサブストレートを扱うエンジニアにとって非常に時間のかかるプロセスです。P...
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反射型分光エリプソメーター Referenced Spectroscopic Ellipsometer: RSE
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反射型分光エリプソメーター (Referenced Spectroscopic Ellipsometer: RSE) は、エリプソメーターをベースにした反射率計で、品質管理...
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すべての人にAFMテクノロジーのパワーと多様性を Park SmartScan™
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最新の閲覧: 1時間前
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Park SmartScan™は、パーク・システムズのAFM向けの革新的なオペレーティングソフトウエアです。自動モードにより、初心者でもマウスを3...
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表面検査メトロロジー Surface Inspection Metrology of Nanofilms (SIMON)
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SIMONは、イメージングエリプソメトリーにおける規則的な測定作業に特化した特別仕様となっています。 シンプルなユーザーインターフェ...
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汎用性の高いAFMで生産性を大幅に向上 Park NX20 Lite
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Park NX20 Liteは、多様な試料を扱う共同研究室、多変量解析やウェハーの故障解析に最適な多くの独自の機能を備えています。 また、リー...
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Park AFM用の原子間力顕微鏡画像処理・データ分析ソフトウェア Park SmartAnalysis™
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Park SmartAnalysis™は、Park AFM用の原子間力顕微鏡画像処理・データ分析ソフトウェアです。AFMで取得した画像や測定値を迅速に準備、...
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化学分析と材料イメージングのためのナノスケール赤外分光器 Park NX-IR
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最新の閲覧: 17時間前
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Park NX-IRは、ナノスケールの赤外線 (IR) 分光器と原子間力顕微鏡 (AFM) を一体化した、化学および材料の特性評価用の装置です。 Par...
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300mm半導体ウェハー用ナノスケール赤外分光システム Park NX-IR R300
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Park NX-IR R300は、300mmまでの半導体ウェハーに対応したナノスケール赤外分光システムです。化学特性情報だけでなく、半導体研究の機...
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分析化学研究者および共用施設向けの多目的顕微鏡プラットフォーム Park NX12
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Park NX12は、倒立型光学顕微鏡の試料ステージと、汎用性と精度の高いパーク・システムズのAFMを一体化させた装置です。透明/不透明、あ...
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柔軟なサンプル対応を可能にした最も経済的なリサーチグレードAFM Park NX7
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最新の閲覧: 2時間前
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Park NX7は、パーク・システムズの最先端技術を搭載し、上位モデル同様細部までこだわって設計されている最も経済的なAFMです。 ■クロ...
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ウェーハ測定及び分析のための自動化ナノ測定装置 Park NX20 300mm
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Park NX20 300mmは、300mmX300mmのサイズの計測を完全自動化させた業界初の大型サンプル向け原子間力顕微鏡 (AFM) です。 故障解析や...
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ライブビューの全体像 ブリュースター角度の顕微鏡 Accurion UltraBAM
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UltraBAMは、気液界面測定のために設計されたブリュースター角度の顕微鏡です。また、ガラスや石英などの固体基板上でも使用することが...
パーク・システムズ・ジャパン株式会社
薄膜を可視化 イメージングエリプソメーター Accurion EP4
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イメージングエリプソメーターEP4は、エリプソメトリーと顕微鏡を融合させた製品です。 EP4は1 µm程度の微細な構造物に対して、エリプ...
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高分解能3Dメトロロジーのための全自動産業用AFM Park NX-3DM
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パーク・システムズは、オーバーハングプロファイル、高解像度側壁イメージング、および臨界角測定用に設計された完全自動AFMシステムで...
パーク・システムズ・ジャパン株式会社
故障解析アプリケーションに適した真空環境スキャニング Park NX-Hivac
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■NX-Hivac自動真空制御 最適な真空状態までのポンピングと排気プロセスが、ワンボタン操作だけで論理的及び視覚的に制御されます。それ...
パーク・システムズ・ジャパン株式会社
原子間力顕微鏡の校正用標準試料 AFM Tip Characterizer (AFMTC)
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AFMTCサンプルは、10本の超微細トレンチ (10～50nm) と50nmの分離されたラインから構成されています。この校正用サンプルは、ナノスケー...
パーク・システムズ・ジャパン株式会社
ナノリソグラフィとナノマニピュレーションのための直感的なユーザーインターフェイスを備えた Park SmartLitho™
70人以上が見ています
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SmartScan™ 自動モードは、イメージングに必要なすべての操作を自動的に実行し、最適な画質とスキャン速度を全自動で高度に判断します。...
パーク・システムズ・ジャパン株式会社
走査型電子顕微鏡測定用の校正用標準試料 High Magnification Calibrator (HMC)
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HMCサンプルは、5つの異なる幅とピッチ基準を提供する一連のラインで構成されています。この校正用サンプルは、AFM測定やSEMの倍率の水...
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