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ウェハサイズ
150±0.5mm
厚さ
675±25um
結晶育成法
(1-100) CZ
ドーパント
リン (P)
転位密度
<5,000/cm²
抵抗値
4~7ohm.cm
ラジアル比抵抗変化量
15%
平行度
BOW (max) : 60um TIR (max) : 6um TAPER (max) : 12um WARP (max) : 60um
プライマリフラット
長さ：57.5±2.5mm 面方位： (110) ±2°SEMI準拠 セカンダリフラット：SEMI準拠
前面
鏡面研磨
パーティクル (max)
≧0.3um,30
スクラッチ、チップ、ピールなど
無し
裏面
エッチド
インチ
4~12
研磨面
4~8インチ : 片面 12インチ : 両面
基板厚
250~775um
比抵抗
0~100
粒子
4~8インチ :0.2um ≦30個 12インチ : 0.09um ≦100個
型番
テストウェハ-N型150mm SCL取扱企業
株式会社トゥーリーズカテゴリ
Metoree経由で見積もり
2024年12月5日にレビュー済み
顧客対応への満足度
今回は残念ながら取引には至りませんでしたが丁寧な対応で好感が持てました。
初回対応までの時間への満足度
1.49時間
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複数社に同じ内容の記入は不要です
返答率96%
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| 商品画像 | 価格 (税抜) | ウェハサイズ | 厚さ | 面方位 | 結晶育成法 | ドーパント | 転位密度 | 抵抗値 | ラジアル比抵抗変化量 | 平行度 | プライマリフラット | 前面 | パーティクル (max) | スクラッチ、チップ、ピールなど | 裏面 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|
要見積もり | 150±0.5mm | 675±25um | <100>±2° | (1-100) CZ | リン (P) | <5,000/cm² | 4~7ohm.cm | 15% |
BOW (max) : 60um TIR (max) : 6um TAPER (max) : 12um WARP (max) : 60um |
長さ：57.5±2.5mm 面方位： (110) ±2°SEMI準拠 セカンダリフラット：SEMI準拠 |
鏡面研磨 | ≧0.3um,30 | 無し | エッチド |
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直径 mm
5 - 100 100 - 150 150 - 200 200 - 300 300 - 400 400 - 600厚さ um
0 - 100 100 - 200 200 - 300 300 - 400 400 - 500 500 - 600 600 - 700 700 - 800 800 - 1,200 1,200 - 2,000抵抗率 Ω・cm
0 - 1 1 - 10 10 - 100 100 - 1,000 1,000 - 10,000結晶方位 度
100 - 101 101 - 112 112 - 211導電型
N/P N P成長方法
CZ MCZ FZ NTDFZ GDFZパーティクルサイズ μm
0 - 1 1 - 10 10 - 100 100 - 110
