高濃度CZ-Si | XCSW製 化合物・半導体結晶 CZ法シリコンウェハ
株式会社トゥーリーズ
価格 (税抜)
株式会社トゥーリーズの対応状況
返答率
100.0%
平均返答時間
0.7時間
型番説明
特別なドーピング装置を用いて、P,Sb,Asなど高濃度に添加し、非常に低い抵抗率を製造することができます。主にエピタキシャル成長基盤として用いられます。
型番フィルター
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Bow
LPD
TTV
Warp
φ直径 (インチ)
セカンダリーフラット方位
セカンダリーフラット長さ
チッピング
プライマリーフラット方位
プライマリーフラット長さ
厚さ
導電型
抵抗値 (Ω・cm)
直径
育成法
表面仕上げ
裏面
面方位
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型番
高濃度CZ-Si
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取扱企業
株式会社トゥーリーズ
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XCSW製 化合物・半導体結晶 CZ法シリコンウェハ 高濃度CZ-Siの性能表
| 商品画像 | 価格 (税抜) | Bow | LPD | TTV | Warp | φ直径 (インチ) | セカンダリーフラット方位 | セカンダリーフラット長さ | チッピング | プライマリーフラット方位 | プライマリーフラット長さ | 厚さ | 導電型 | 抵抗値 (Ω・cm) | 直径 | 育成法 | 表面仕上げ | 裏面 | 面方位 |
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要見積もり | ≦40um | ≧0.3um at ≦15pcs | ≦5um | ≦40um | 3~8 | 無し | 無し | 無し | <001>±1° | 57.5±2.5mm | 160以上 | N or P | >0.001~1 | 76.2~200mm | 高濃度CZ | 化学機械研磨 | エッチド | <100>,<110>,<111> |
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のついている項目名や値は、Metoreeの自然言語処理アルゴリズムを用いて自動生成された値です。各メーカーの製品を横断して比較しやすくするための参考としてご利用ください。自動生成データは黒色の文字、元データは灰色の文字です。
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