株式会社睦コーポレーション

■商品説明 試料走査タイプの透過型レーザ顕微鏡です。波長範囲は、480nm〜1,064nmの顕微光学系を採用しておりますので、チタンサファイ...

• 観察機器

• 工業用顕微鏡

■商品説明 本装置は、LEDなどの微小発光素子における外部量子効率 (EQE: External Quantum Efficiency) を測定するためのマニュアルプロ...

• 検査装置

• プローバー

■商品説明 本製品は、半導体デバイスのI-V特性 (電流-電圧特性) などの電気特性を評価するためのマニュアルプローバーです。プローバー...

• 検査装置

• プローバー

■商品説明 本システムは、ウエハーから個別に切り出されたレーザーダイオードバー、及び、CANパッケージ型レーザーダイオードの性能評価...

• 検査装置

• 半導体検査装置

■商品説明 フォトルミネッセンス等の微弱発光を効率よく光ファイバに入射させるための光収集光学ユニットです。励起光カットフィルター...

• ステージ

• XYZステージ

■商品説明 本装置は、真空装置内のIn-Situにおける微小エリアの2次元分光を3～5ftpの速度で測定するために開発されました。紫外から可視...

• アナライザ

• 分光分析装置

■商品説明 裏面発光タイプの光半導体デバイスのI-V-L (電流-電圧-光出力) 特性及び、発光スペクトルを測定するためのマニュアルプローバ...

• 検査装置

• プローバー

■商品説明 フォトルミネッセンス (Photoluminescence,PL) 法とは、物質に光を照射して電子を励起し、その励起電子が基底状態へ遷移する...

• アナライザ

• 分光分析装置

■商品説明 フォトルミネッセンス (Photoluminescence,PL) 法とは、物質に光を照射して電子を励起し、その励起電子が基底状態へ遷移する...

• アナライザ

• 分光分析装置

■商品説明 本簡易型マニュアルプローバーは、研究開発や製造現場において、半導体デバイスの各種電気特性を評価するための装置です。特...

• 検査装置

• プローバー

■商品説明 LED、レーザダイオード、VCSEL等の発光素子の光学特性をウェハレベルで測定するための電気的、光学的プロービング装置です。...

• 検査装置

• プローバー

■商品説明 発光デバイスに電流を流して、評価を行うためのコンパクトプローバーです。実体顕微鏡で観察しながら、発光デバイスの電極と...

• 検査装置

• プローバー

■商品説明 フォトルミネッセンス (Photoluminescence,PL) 法とは、物質に光を照射して電子を励起し、その励起電子が基底状態へ遷移する...

• アナライザ

• 分光分析装置

■商品説明 フォトルミネッセンス (Photoluminescence,PL) 法とは、物質に光を照射して電子を励起し、その励起電子が基底状態へ遷移する...

• アナライザ

• 分光分析装置

■商品説明 フォトルミネッセンス (Photoluminescence,PL) 法とは、物質に光を照射して電子を励起し、その励起電子が基底状態へ遷移する...

• アナライザ

• 分光分析装置

■商品説明 本フォトンカウンティング方式分光計測装置は、蛍光、ラマン及びレイリー散乱光、化学発光、生体発光、近接場光等の極微弱光...

• アナライザ

• 分光分析装置

■商品説明 本装置は、真空紫外領域光 (120nm〜200nm) を真空紫外対応分光器により単色光とし、測定試料に照射し、測定試料からの蛍光 (3...

• アナライザ

• 分光分析装置

■商品説明 本ユニットは、顕微鏡観察と顕微分光測定を組み合わせた顕微分光顕微鏡として機能し、微小領域の発光スペクトルを高精度に測...

• 観察機器

• 光学顕微鏡

■商品説明 本装置は、DUT (Device Under Test:被測定デバイス) に対して、高周波測定を行うためのマイクロ波テストフィクスチャです。DU...

■商品説明 本装置は、レーザ光をサンプルの微小領域に高精度に集光・照射するために設計された専用顕微鏡ユニットです。対物レンズ系に...

• 観察機器

• 光学顕微鏡

■商品説明 光学顕微鏡に取付けて顕微分光測定及びイメージ分光測定を行うことができます。 ■特徴 ・顕微領域スポット1µmの顕微分光計測...

• アナライザ

• 分光分析装置

■商品説明 本装置は、測定試料の温度を常温〜2,000℃、4.2K〜500Kまで、測定試料の温度を可変しながら、真空紫外領域 (130nm〜260nm) に...

• アナライザ

• 分光分析装置

■商品説明 本システムは、LEDチップをウェハ状態のまま高精度に評価できるウェハレベルLEDテストシステムです。主に電流－電圧－光出力...

• 検査装置

• 半導体検査装置

■商品説明 本製品は、マイクロLEDの微細発光パターンを高精度に観察・測定するために開発された専用装置です。コンパクト設計のプローバ...

• 検査装置

• 半導体検査装置

■商品説明 本装置は、合成石英製光学窓および、液体窒素によるサンプル冷却機能を持った顕微鏡測定用クライオスタットです。サンプル空...

• 冷却装置

• クライオスタット

■特徴 ・光学実験用の暗箱/遮光ボックスです。 ・明るい部屋で光学実験を行う際に、光学実験台上の光学系にかぶせて、外乱光の遮断に使...

• 保護材・保護機器

• 簡易暗室

■商品説明 本装置は、375nmのレーザ光を試料に照射して、発光するフォトルミネッセンスの分光計測を行う装置です。 ■特徴 ・励起波長：...

• アナライザ

• 分光分析装置

■商品説明 本装置は、193nmのレーザ光を試料に照射して、発光するフォトルミネッセンスの分光計測を行う装置です。 ■特徴 ・励起波長:1...

• アナライザ

• 分光分析装置

■商品説明 本装置は、213nm、325nmのレーザ光を試料に照射して、発光するフォトルミネッセンスの分光計測を行う装置です。 ■特徴 ・励...

• アナライザ

• 分光分析装置

■商品説明 本製品は、遮光性能を備えた光学暗箱 (光学遮光筐体) です。アルミフレームと、アルミプレートパネルによって構成されていま...

• 保護材・保護機器

• 簡易暗室