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装置構成 搬送系 (標準)
手動トランスファーロッド
装置構成 モジュール
試料交換室×1室 プロセス室×1室
真空槽 プロセス室
プラズマCVD室 直流 (DC) プラズマ式
到達圧力 試料交換室 (標準)
≦10Pa (プロセス室 補助ポンプ共用)
到達圧力 プロセス室 (標準)
≦1.0×10^ー3Pa
真空槽
SUSチャンバ
排気系 主排気ポンプ
試料交換室:油回転真空ポンプ プロセス室:ターボ分子ポンプ
排気系 補助ポンプ
油回転真空ポンプ (試料交換室主排気ポンプ 共用)
排気系 各種バルブ
PLC操作 (自動および手動)
真空計 低真空
ピラニ真空計
真空計 高真空 圧力制御
ワイドレンジ真空計
基板サイズ
MAX2インチ (付属専用ホルダ) 不定形状可能
反応性ガス
H2+N2+C2H4 (プロセス室構成例)
槽内アクセス アクセスドア
試料交換室:Oリングシール プロセス室:Oリングシール、アクセスフランジ
制御系 主操作
制御盤PLC操作
機能 (例) 試料交換室
トランスファーロッド (ホルダ×1式積載)
機能 (例) CVD室
成膜ステージ (X) 基板加熱 (常用600℃、MAX800℃)
オプション 圧力制御
絶対圧真空計
オプション 水冷機構
冷却水循環装置
ユーティリティ 電力
3Φ AC200V 50/60Hz 30A (プロセス室構成例)
ユーティリティ 冷却水
供給圧:0.2~0.3MPa 水温:20~28℃ 水量:≧6L/min (プロセス室構成例)
ユーティリティ プロセスガス
Ar、H2、N2 (プロセス室構成例)
ユーティリティ ペントガス
窒素ガス 0.1~0.15MPa
ユーティリティ 圧縮空気
0.5~0.8MPa
ユーティリティ 設置面積
(W×D×H) =1.8m×0.8m×1.8m (プロセス室構成例)
型番
プラズマCVD装置シリーズ
CVD装置 プラズマCVD装置取扱企業
株式会社日本シード研究所カテゴリ
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商品画像 | 価格 (税抜) | 装置構成 搬送系 (標準) | 装置構成 モジュール | 真空槽 プロセス室 | 到達圧力 試料交換室 (標準) | 到達圧力 プロセス室 (標準) | 真空槽 | 排気系 主排気ポンプ | 排気系 補助ポンプ | 排気系 各種バルブ | 真空計 低真空 | 真空計 高真空 圧力制御 | 基板サイズ | 反応性ガス | 槽内アクセス アクセスドア | 制御系 主操作 | 機能 (例) 試料交換室 | 機能 (例) CVD室 | オプション 圧力制御 | オプション 水冷機構 | ユーティリティ 電力 | ユーティリティ 冷却水 | ユーティリティ プロセスガス | ユーティリティ ペントガス | ユーティリティ 圧縮空気 | ユーティリティ 設置面積 |
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要見積もり | 手動トランスファーロッド |
試料交換室×1室 プロセス室×1室 |
プラズマCVD室 直流 (DC) プラズマ式 |
≦10Pa (プロセス室 補助ポンプ共用) |
≦1.0×10^ー3Pa | SUSチャンバ |
試料交換室:油回転真空ポンプ プロセス室:ターボ分子ポンプ |
油回転真空ポンプ (試料交換室主排気ポンプ 共用) |
PLC操作 (自動および手動) | ピラニ真空計 | ワイドレンジ真空計 |
MAX2インチ (付属専用ホルダ) 不定形状可能 |
H2+N2+C2H4 (プロセス室構成例) |
試料交換室:Oリングシール プロセス室:Oリングシール、アクセスフランジ |
制御盤PLC操作 |
トランスファーロッド (ホルダ×1式積載) |
成膜ステージ (X) 基板加熱 (常用600℃、MAX800℃) |
絶対圧真空計 | 冷却水循環装置 | 3Φ AC200V 50/60Hz 30A (プロセス室構成例) |
供給圧:0.2~0.3MPa 水温:20~28℃ 水量:≧6L/min (プロセス室構成例) |
Ar、H2、N2 (プロセス室構成例) |
窒素ガス 0.1~0.15MPa |
0.5~0.8MPa |
(W×D×H) =1.8m×0.8m×1.8m (プロセス室構成例) |
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