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オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社

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会社概要

オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社は科学研究機器、半導体プロセス装置、分析機器の輸入販売・修理・買取を行っている企業です。 1991年にイギリスのオックスフォード・インストゥルメンツの日本法人として設立されました。本国の技術で制作された機器の販売を中心に、国内に展開しています。 主要な取引先としては、国公立及び民間企業の研究開発機関、半導体デバイスメーカー、電子顕微鏡メーカーであり、イギリスで開発された先進的な技術が評価されています。

事業内容

当社の事業グループには、EDS/EDXに代表される電子顕微鏡用分析装置を提供する分析機器事業部をはじめ、多様な光学イメージングソリューションを提供するアンドール事業部、原子間力顕微鏡で評価の高いアサイラム・リサーチ事業部、当社で最も長い歴史をもつ低温・超電導事業部などが含まれます。それぞれの対応製品は、各事業グループの専用ページでご確認いただけます。


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オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社の取り扱い製品

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173 点の製品

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スキャニングアプリケーション専用のプラットフォームを提供 Solis Scanning

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■概要 ・PMT、PbS、MCTをはじめとする包括的な範囲の単一点検出器によるUVから長波IR (LWIR) までの領域にわたる検出性能を持つSolis Sc...

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完全密閉された液体環境を作り出す 完全密閉液体セル (Cypher ES対応)

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Cypher ES AFM/SPM用の液中測定用カンチレバーホルダーは、完全密閉された液体環境を作り出します。液中測定が非常に簡単になり、液漏れ...

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高い探針バイアス電圧印加が可能 圧電応答顕微鏡 (PFM, Piezoresponse Force Microscopy)

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ピエゾフォースモジュールは、強誘電体やマルチフェロイックを含む圧電体上で、超高感度でクロストークフリーな測定を行うために、高い...

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力学物性測定 (ナノメカニクス) & 熱物性測定 Cypher AFM用のコンタクト共振粘弾性マッピングモード

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■概要 ・Cypher AFM用のコンタクト共振粘弾性マッピングモード (Contact Resonance Viscoelastic Mapping Mode) は、1 GPa〜100 GPa程...

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波長分散型分光器 (WDS) 用ソフトウェア INCAEnergy+

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INCAEnergy+はWDSとEDSを組み合わせて使用するソフトウェアで、WDSの高感度・高解像能、EDSの高生産性・使いやすさ、という両者の優れた...

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密閉環境において、ガス中および液中のサンプル温度を制御できる サンプル加熱・冷却ステージ (Cypher ES)

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Cypher ES AFM/SPM 対応のクーラーヒータサンプルステージは、密閉環境において、ガス中および液中のサンプル温度を制御できます:0~12...

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サンプルの裏側からカスタマイズ可能な光を照射しながら、高分解能な電気特性評価が可能 光起電力計測オプション

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■概要 ・MFP-3D Infinity AFM/SPM用の光起電力計測 (PV, Photovoltaic) オプションは、サンプルの裏側からカスタマイズ可能な光を照射し...

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MFP-3D アクセサリ 実験ニーズに対応 デジタルアクセスモジュール&拡張デジタルインターフェイスモジュール

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■概要 ・デジタルアクセスモジュールは、フォトンカウントやAFM/SPMスキャンとの同期などの用途に応じて、コントローラにデジタルI/Oを...

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機器制御とデータ解析のための統合ソフトウェア WITec Suite SIX

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■概要 ・Suite SIXは、WITec (ビーテック) の機器制御とデータ解析のための統合ソフトウェア環境の最新バージョンです。 ・alpha300シリ...

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alpha300シリーズの拡張機能で時間相関単一光子計数 (TCSPC) が可能 StrobeLock

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■概要 ・StrobeLockは、alpha300シリーズの拡張機能で時間相関単一光子計数 (TCSPC) が可能になります。 ・TCSPCは、パルス励起後の時間...

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室温から300℃までの高温におけるポリマー研究用に設計された 加熱ステージ (PolyHeater)

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■概要 ・加熱ステージ (PolyHeate) は、室温から300℃までの高温におけるポリマー研究用に設計された加熱ステージです。 ・ステージは、...

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ナノスケール電気特性評価 高電圧・圧電応答顕微鏡 (HV-PFM)

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■概要 ・Cypher AFM のHV-PFMオプションにより、強誘電体やマルチフェロイクスなど、圧電体の高感度、高バイアス、クロストークフリーな...

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2軸の引張応力制御が可能 NanoRack サンプル引張ステージ

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■概要 NanoRack™ (ナノラック) を用いることで、サンプルから新しい情報を引き出せます。独自のサンプルステージにより、サンプル中央付...

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分光法アプリケーションに適したソフトウェアプラットフォーム Solis S

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■概要 ・Andor Solis (s) は、分光法アプリケーションに適したソフトウェアプラットフォームです。 ・ユーザーが取得をすばやく設定し、...

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イメージング性能の劣化を最小限に抑える MFP-3DのZ軸拡張ヘッド

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MFP-3DのZ軸拡張ヘッドは、高さのあるサンプルのイメージングやロングレンジのフォース測定に対して、Z方向に40 μmのレンジを提供し、イ...

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Cypher AFM/SPM のサーモメカニカルナノインデンテーション

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Cypher AFM/SPM のサーモメカニカルナノインデンテーションを使用することにより、融解・ガラス転移温度の分析が、これまでになく高感度...

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試料の加熱・冷却ステージ 環境制御

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正確な試料の温度制御の要求にも対応可能です。alpha300シリーズでは、-269℃~1,500℃ (4K~1,773K) の範囲で試料の冷却、加熱が可能です。

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PVインスペクター NIRカメラ PV検査装置

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AndorのPVインスペクターNIRカメラは、800 nm以上で> 90%のQEを提供し、NIRでフリンジ効果を最小限にするFringe Suppression Technology...

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-30˚Cから +120˚Cまでの連続した温度制御が可能 サンプル加熱・冷却ステージ

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■概要 ・クーラーヒーター (CoolerHeater) は、サンプルの加熱・冷却にペルチェ素子を使用しています。 ・-30˚Cから +120˚Cまでの連続し...

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現場で実績のある柔軟な光刺激ツール MicroPoint

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■概要 MicroPointは、現場で実績のある柔軟な光刺激ツールを提供します。特許取得済みのコンパクトで波長選択が可能なパルス窒素ポンプ...

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光遺伝学や光生理学などの光刺激アプリケーションに最適 Mosaic

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最新の閲覧: 16時間前

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■概要 Mosaicは、光遺伝学、光生理学、光退色/光活性化、アンケージングなどの光刺激アプリケーションに最適なツールです。顕微鏡下で使...

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垂直および水平信号検出の帯域幅を5MHzにアップグレード 高帯域幅フォトダイオードオプション

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■概要 ・高帯域幅フォトダイオードオプションは、垂直および水平信号検出の帯域幅を 5 MHzにアップグレードします。 ・高帯域幅信号は外...

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低コストタイプの液中イメージングアクセサリ 流体セルライト (Fluid Cell Lite)

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■概要 ・MFP-3D AFM/SPM用の流体セルライト (Fluid Cell Lite) は、低コストタイプの液中イメージングアクセサリであり、下方からサンプ...

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データ集約型のアプリケーションに最適 GPU Express

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Andor GPU Expressライブラリは、カメラからCUDA対応NVidia GPU (Graphical Processing Unit) カードへのデータ転送を簡素化および最適...

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サンプルへの外部印加 電気的プローブステーション

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■概要 ・プローブステーションは、MFP-3Dスキャナ上に取り付けることで、AFM/SPM走査しながら、サンプルに対して電気的プロービング、電...

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高分解能観察が可能 顕微鏡コンポーネント

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■特長 ・エンクロージャー (防音ボックス) ・温度変動、エアドラフト、音響ノイズなどの発生源から外部干渉の低減 ・気密オプションによ...

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ガスまたは液体をセル内部に静的に保持したり、注入出ポートを通してかん流できる 密閉型流体セル

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■概要 ・MFP-3D AFM/SPM用の密閉型流体セル (CFC,Closed Fluid Cell) は、ガスまたは液体をセル内部に静的に保持したり、また、注入出...

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再現性の高い測定 Jupiter XR AFM/SPM アクセサリ

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■概要 Jupiter XR AFMのnanoTDDB機能は、ナノ領域の絶縁破壊特性をウェハのまま評価することが可能です。導電性AFMプローブを流れる電流...

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磁気力顕微鏡や、サンプルが磁場に依存するようなアプリケーションに最適 磁場印加モジュール

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■概要 ・磁場印加モジュール (VFM4, Variable Field Module 4) は、磁気力顕微鏡や、サンプルが磁場に依存するようなアプリケーションに...

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イメージ内で全フォースカーブを取得 高速フォースマッピングモード (FFM)

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■概要 ・Jupiter XR AFM対応の高速フォースマッピング (Force-distance curve mapping) モードは、高速 (最大2500 Hz) でフォースカーブ...

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会社基本情報

郵便番号 〒141-0001
本社住所 東京都東京都品川区北品川5丁目1番18号
法人番号 4010601024459
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事業所情報

オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社の営業所、その他が全国で2箇所登録されています。

営業所

大阪府でオックスフォード・インストゥルメンツ株式会社の営業所が1箇所登録されています。

大阪営業所 営業所

〒532-0011 大阪府大阪市淀川区西中島5-8-3新大阪サンアールビル北館10F

その他

東京都でオックスフォード・インストゥルメンツ株式会社のその他が1箇所登録されています。

日本橋ラボ その他

〒103-0006 東京都中央区日本橋富沢町12-20日本橋T&Dビル1F

事業所情報について

事業所はMetoreeに登録されているもののみが表示されています。

オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社の製品カテゴリ

オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社の製品が10件登録されています。

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注目ランキング導出方法について

注目ランキングは、2025年5月のオックスフォード・インストゥルメンツ株式会社のMetoreeページ内でのクリックシェアを基に算出しています。クリックシェアは、対象期間内の各ページでの全企業の総クリック数を各企業のクリック数で割った値を指します。また、製品はMetoreeに登録されているもののみが表示されています。

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