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ダイシング (テープフレーム) ウエハ表面 パーティクルスキャナ YPI-MX TF-YPI-MX TF
ダイシング (テープフレーム) ウエハ表面 パーティクルスキャナ YPI-MX TF-株式会社YGK

ダイシング (テープフレーム) ウエハ表面 パーティクルスキャナ YPI-MX TF
株式会社YGK



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この製品について

ダイシング (テープフレーム) ウエハの高感度異物測定。後工程の研究開発機として最適です。

  • シリーズ

    ダイシング (テープフレーム) ウエハ表面 パーティクルスキャナ YPI-MX TF

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ダイシング (テープフレーム) ウエハ表面 パーティクルスキャナ YPI-MX TF 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜) 搬送タイプ 外観寸法 (mm) W×D×H 用力 (V) 電源 用力 (kPa) 真空 対応ウエハ ウエハサイズ (インチ)
ダイシング (テープフレーム) ウエハ表面 パーティクルスキャナ YPI-MX TF-品番-YPI-MX TF

YPI-MX TF

要見積もり

マニュアル搬送タイプ (セミオート)

1,220 x 1,220 x 1,810

AC200

-70、-40

シリコンウエハ及びテープフレーム付ウエハ

通常ウエハ 3~12インチ、テープフレーム付ウエハ 6~12インチ、測定ホルダの段取替えが必要です。

フィルターから探す

半導体検査装置をフィルターから探すことができます

処理能力 秒/個

0 - 0.1 0.1 - 1 1 - 3

電源 V

0 - 100 100 - 200 200 - 250

分解能 μm

0 - 1 1 - 10 10 - 30 30 - 50

供給方式

トレー スティック パーツフィーダ コンベア マガジンローダ ダイシングフレームカセット ウエハリング テープフィーダ

コンタクト

テストヘッド対応 ケルビンコンタクト ソケット ソケットボード プローブピン

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