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自動電気検査装置 半導体パッケージ用自動検査装置 GATS-7755 ICS/SLP用-GATS-7755 ICS/SLP用
自動電気検査装置 半導体パッケージ用自動検査装置 GATS-7755 ICS/SLP用-ニデックアドバンステクノロジー株式会社

自動電気検査装置 半導体パッケージ用自動検査装置 GATS-7755 ICS/SLP用
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この製品について

高速高精度シャトル型ステップ&リピート式OPEN/LEAK自動基板検査装置 多面付け基板 (SLP/ICS/MCM/MCP/CSP等) パターンの導通・短絡 (絶縁) 検査に最適　ファインピッチFC-CSP検査に最適な高速高精度、コアレス対応の次世代型検査装置が登場

■特徴

・ダブルテーブル/シャトル式 総合アライメント精度±2.5μm ・部品内蔵 (EmbeddedIC) 基板対応 ・ケーブルレススキャナーで高速検査を実現 ・多彩なテスター群からお好みの仕様を選択可、コアレス基板に最適

  • シリーズ

    自動電気検査装置 半導体パッケージ用自動検査装置 GATS-7755 ICS/SLP用

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自動電気検査装置 半導体パッケージ用自動検査装置 GATS-7755 ICS/SLP用 品番1件

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GATS-7755 ICS/SLP用

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会社概要

日本電産リード株式会社は、半導体パッケージやプリント基板の検査装置などの製造開発・販売を主力事業とする企業です。 検査機器の心臓部を担う高性能ICとソフトウェアや、細かい単位で加工・組立を行う装置ハードウェア、さらに...

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