ユーロフィンイーエージー株式会社

東京都
1992年
メーカー

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ユーロフィンイーエージー株式会社の対応状況

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返答時間

11.4時間

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レビューは全てメトリー経由で実際に見積もりをしたユーザーによるものです

2025年8月20日にレビュー

弊社が提示した試験条件がかなり複雑であったため、今回は対応不可とのことでしたが、どういった点でNGであったか詳細にメールで記載していただけました。

初回返答までの時間・5.43時間

会社概要

材料分析のエキスパート｜WE KNOW HOW to solve your scientific problems!

材料分析でお困りの方、お気軽にEAGまでご相談ください！ 
●高品質分析　●短納期　●迅速対応

ユーロフィンEAG（略称：EAG）は、40年以上にわたり半導体産業、高純度金属、先端・ナノ材料分野で材料分析サービスを提供してまいりました。

半導体デバイス・製造装置のプロセス開発、研究開発、品質保証に不可欠なSIMS分析（二次イオン質量分析法）やTEM/STEM分析（透過型電子顕微鏡分析）、そして高純度材料の不純物分析に用いるGDMS分析（グロー放電質量分析法）においては、長年の技術蓄積と迅速な納期対応でお客様のニーズにお応えします。

事業内容

■EAG材料分析サービス

形態分析
●電子顕微鏡分析：TEM/STEM・AC-STEM、EDS・EELS、Cryo-TEM・Cryo-FIB、FIB-SEM・Plasma-FIB、SEM-CL
●発光故障個所特定：OBIRCH・Emission (EL)・IR
●非破壊解析：XCT・C-SAM

SIMS分析：SIMS・PCOR-SIMS

結晶構造分析：TEM、XRD、Raman、PED・EBSD

表面分析：XPS/ESCA、AES、TOF-SIMS
●薄膜分析：RBS/HFS、XRR、Ellipsometer
●ウエハ表面汚染分析：TXRF、VPD-ICP-MS

不純物分析：GDMS、GD-OES、IGA、XRF、ICP-MS・ICP-MS/MS、ICP-OES、SIMS

有機分析：Nano-IR、TOF-SIMS、Raman・FT-IR

その他：
●封止パッケージ分析：IVA/HR-IVA（封止内部水分量・ガス成分分析）、Kr85リーク試験
半導体ATE試験、電気特性評価、信頼性評価

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返答時間

11.4時間

ユーロフィンイーエージーのカタログ 6件

材料分析早見チャート｜Smart CHART

ノウハウカタログ

カタログ概要

Smart CHARTは各種表面分析手法について、一目で分析領域と検出下限の関係がわかるようにEAGでデザインしたチャートです。表面分析手法が一望できるので、分...

タグ付けカテゴリ

電子顕微鏡 X線分析装置質量分析計透過型電子顕微鏡走査型電子顕微鏡蛍光X線分析装置表面分析貴金属分析結晶多形分析

2025年7月18日

材料分析サービス｜GD-OES分析

製品個別カタログ

カタログ概要

GD-OES分析（Glow Discharge Optical Emission Spectrometry：グロー放電発光分光分析法）は、材料の表面から深さ方向に向かって、どんな元素がどれくらい含...

タグ付けカテゴリ

元素分析装置表面分析貴金属分析

2025年7月12日

分析事例｜PCOR-SIMSによる極低エネルギーBoronイオン注入試料の熱処理後の特性評価

ノウハウカタログ

カタログ概要

半導体デザインルールの微細化が進む現代において、極低エネルギー（ULE）ホウ素イオン注入の正確な評価は不可欠です。EAGは、この課題に応えるべく、独自の...

タグ付けカテゴリ

半導体製造装置元素分析装置半導体パッケージ質量分析計表面分析半導体スパッタリング

2025年7月12日

分析事例｜太陽電池用シリコン中の不純物測定

ノウハウカタログ

カタログ概要

太陽電池の性能と歩留まりは、シリコン中の不純物レベルで決まります。ユーロフィンEAGは、30年以上の経験を持つ高純度分析のエキスパートです。広範囲の元...

タグ付けカテゴリ

半導体製造装置元素分析装置半導体パッケージ半導体材料表面分析

2025年7月12日

分析事例｜FinFET技術の進化に関する材料分析研究：22 nmから7 nmへ

ノウハウカタログ

カタログ概要

7nm FinFET（フィン型トランジスタ）という新しい半導体技術は、2012年の22nm、2014年の14nm、2016年の10nmといった先行技術の進化を経て、2018年から半導体...

タグ付けカテゴリ

元素分析装置半導体パッケージ透過型電子顕微鏡表面分析

2025年7月18日

材料分析｜ユーロフィンEAG 会社案内

会社案内カタログ

カタログ概要

ユーロフィンEAGは、SIMS分析のパイオニアが1978年創業しました。SIMSを中核に、半導体・先端材料分野で40年以上、材料分析サービスを提供しています。55台超...

タグ付けカテゴリ

電子顕微鏡半導体製造装置半導体パッケージ半導体材料透過型電子顕微鏡走査型電子顕微鏡表面分析貴金属分析受託測定

2025年7月31日

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会社基本情報

郵便番号	〒101-0065
本社住所	東京都東京都千代田区西神田3-8-1 千代田ファーストビル東館12F
創業年	1992年
法人番号	5013301009035
会社区分	メーカー
リンク	ユーロフィンイーエージー株式会社ホームページ

ユーロフィンイーエージー株式会社の製品カテゴリ

ユーロフィンイーエージー株式会社の製品が5件登録されています。

注目ランキング導出方法

透過型電子顕微鏡

走査型電子顕微鏡

蛍光X線分析装置

表面分析

結晶多形分析

注目ランキング導出方法について

注目ランキングは、2025年10月のユーロフィンイーエージー株式会社のMetoreeページ内でのクリックシェアを基に算出しています。クリックシェアは、対象期間内の各ページでの全企業の総クリック数を各企業のクリック数で割った値を指します。また、製品はMetoreeに登録されているもののみが表示されています。

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ユーロフィンイーエージーのカタログ 6件

材料分析早見チャート｜Smart CHART

カタログ概要

タグ付けカテゴリ

材料分析サービス｜GD-OES分析

カタログ概要

タグ付けカテゴリ

分析事例｜PCOR-SIMSによる極低エネルギーBoronイオン注入試料の熱処理後 の特性評価

カタログ概要

タグ付けカテゴリ

分析事例｜太陽電池用シリコン中の不純物測定

カタログ概要

タグ付けカテゴリ

分析事例｜FinFET技術の進化に関する材料分析研究：22 nmから7 nmへ

カタログ概要

タグ付けカテゴリ

材料分析｜ユーロフィンEAG 会社案内

カタログ概要

タグ付けカテゴリ

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分析事例｜PCOR-SIMSによる極低エネルギーBoronイオン注入試料の熱処理後の特性評価