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Smart CHARTは各種表面分析手法について、一目で分析領域と検出下限の関係がわかるようにEAGでデザインしたチャートです。表面分析手法が一望できるので、分...
2025年7月18日
GD-OES分析（Glow Discharge Optical Emission Spectrometry：グロー放電発光分光分析法）は、材料の表面から深さ方向に向かって、どんな元素がどれくらい含...
2025年7月12日
半導体デザインルールの微細化が進む現代において、極低エネルギー（ULE）ホウ素イオン注入の正確な評価は不可欠です 。EAGは、この課題に応えるべく、独自の...
2025年7月12日
太陽電池の性能と歩留まりは、シリコン中の不純物レベルで決まります 。ユーロフィンEAGは、30年以上の経験を持つ高純度分析のエキスパートです 。広範囲の元...
2025年7月12日
7nm FinFET（フィン型トランジスタ）という新しい半導体技術は、2012年の22nm、2014年の14nm、2016年の10nmといった先行技術の進化を経て、2018年から半導体...
2025年7月18日
創業40年以上、赤外線計測器専業メーカーのジャパンセンサーが開発した放射率測定器 TSS-5X-3をご紹介します。あらかじめ基準となる2種類の基準片（放射率0.0...
2022年9月8日
