全てのカテゴリ

閲覧履歴

高分解能3Dメトロロジーのための全自動産業用AFM Park NX-3DM-NX-3DM
高分解能3Dメトロロジーのための全自動産業用AFM Park NX-3DM-パーク・システムズ・ジャパン株式会社

高分解能3Dメトロロジーのための全自動産業用AFM Park NX-3DM
パーク・システムズ・ジャパン株式会社

パーク・システムズ・ジャパン株式会社の対応状況

返答率

100.0%

返答時間

26.4時間

返信の比較的早い企業


無料
見積もり費用は無料です、お気軽にご利用ください

電話番号不要
不必要に電話がかかってくる心配はありません

この製品について

パーク・システムズは、オーバーハングプロファイル、高解像度側壁イメージング、および臨界角測定用に設計された完全自動AFMシステムである革新的なPark 3DMシリーズを発表しました。傾斜Zスキャナを備えた特許取得済みの分離型XYおよびZスキャンシステムにより、正確な側壁分析における通常およびフレアチップ法の課題を克服します。 Park 3DMシリーズは、高アスペクト比の先端を持つ柔らかいフォトレジスト表面の非破壊測定を可能にします。

■NXテクノロジーを導入した完全自動化産業用AFM

・クリーンルームと互換性があり、ナノスケールレベルでの測定とデータ分析を完全に自動化 ・NXテクノロジーは、非常に正確なトポグラフィーイメージを自動的に構築し、重要な寸法データを収集 ・独立したクローズドループで動作する市場で最高の低ノイズZ検出器により、トポグラフィーのエラー (“クリープ効果”) を最小化 ・真のノンコンタクト™モードでは、チップとサンプルにかかる費用と時間を抑えながら、両方に損傷を与えずに、正確な高解像度データを収集可能

■アンダーカットおよびオーバーハング構造の革新的なヘッド設計

・独自の横向きZヘッドにより、フォトレジストやその他の工業用材料のアンダーカットおよびオーバーハング構造にアクセス可能 ・特許取得済みの分離されたXYおよびZスキャンシステムは、傾斜Zスキャナと連携して動作し、正確な側壁分析における通常およびフレアチップ法の課題を克服 ・NX-3DMにより、側壁のトレンチラインプロファイル、粗さ、臨界角、および限界寸法をすべて測定可能 ・Zヘッドの傾斜メカニズムにより、超鋭利な先端を使うことで側壁にアクセスし、他の材料と同等の高解像度と精密さを取得

■3D材料用の信頼性の高きシームレス測定ツール

・側壁の粗さ、限界寸法の測定値を取得するためのサンプルの準備 (切断、取り付け、コーティングなど) が不要 ・Zヘッドの傾斜と真のノンコンタクト™モードの導入により、高解像度側壁データの収集、およびチップの形状維持を実現

  • シリーズ

    高分解能3Dメトロロジーのための全自動産業用AFM Park NX-3DM

この製品を共有する


100人以上が見ています


返答率: 100.0%


無料
見積もり費用は無料のため、お気軽にご利用ください

電話番号不要
不必要に電話がかかってくる心配はありません


AFM (原子間力顕微鏡) 注目ランキング

もっと見る

AFM (原子間力顕微鏡) の製品61点中、注目ランキング上位6点

電話番号不要

何社からも電話が来る心配はありません

一括見積もり

複数社に同じ内容の記入は不要です

返答率96%

96%以上の方が返答を受け取っています

AFM (原子間力顕微鏡) 注目ランキング (対応の早い企業)

返答時間が24時間以内の企業の中での注目ランキング

電話番号不要

何社からも電話が来る心配はありません

一括見積もり

複数社に同じ内容の記入は不要です

返答率96%

96%以上の方が返答を受け取っています


高分解能3Dメトロロジーのための全自動産業用AFM Park NX-3DM 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜) 電動XYステージ 電動フォーカスステージ 電動角度レンジ 電動Zステージ Zスキャナ COGNEXパターン認識 XYスキャナ XYスキャナ分解能 設備条件 室温 (待機時) 設備条件 室温 (稼働時) 設備条件 湿度 設備条件 床振動レベル 設備条件 音響ノイズ 設備条件 排気系 設備条件 電源 設備条件 総合消費電力 設備条件 グラウンド抵抗 200mmシステム 200mmシステム 天井高 200mmシステム 作業スペース 300mmシステム 300mmシステム 天井高 300mmシステム 作業スペース
高分解能3Dメトロロジーのための全自動産業用AFM Park NX-3DM-品番-NX-3DM

NX-3DM

要見積もり

200mm:最大275mmx200mmまで移動、分解能:0.5㎛/300 mm:最大400mmx300mmまで移動、分解能:0.5㎛<再現性:<1㎛

Z移動距離:9mm、直上光学系

19度と+19度、-38度と+38度、角度再現性:<0.5度

Z移動距離:27mm、分解能:0.08㎛、再現性:<1㎛

Zスキャナレンジ:15 ㎛ (ラージモード) 、2㎛ (スモールモード) /Zスキャナ分解能:0.016nm (ラージモード) 、0.002nm (スモールモード) ほか

パターンアライン分解能1/4ピクセル

クローズドループ制御付きシングルモジュールのフレクチャー式XYスキャナ、100µm×100µm (ラージモード) 、50µm×50µm (ミディアムモード) 、10µm×10µm (スモールモード)

0.28nm (ラージモード) 、0.03nm (スモールモード)

10℃~40℃

18℃~24℃

30%~60% (コンデンシングしない場合)

VC-D (6μm/秒)

65dB以下

真空 : -80kPa、CDA (またはN2) : 0.7MPa

208V-240V、単相、15A (最大)

2KW (公称)

100オーム以下

1,500mm (幅) ×980mm (奥) x2,050mm (高) 、EFEMなし、約1,020 kg (制御キャビネット付き) ほか

2,500mm以上

3,300mm (幅) x2,300mm (奥) , 最小

1,840mm (幅) ×1,170mm (奥) x2,050mm (高) 、EFEMなし、約1,320 kg (制御キャビネット付き) ほか

2,500mm以上

4,540mm (幅) x2,850mm (奥) , 最小

この商品を見た方はこちらもチェックしています

AFM (原子間力顕微鏡) をもっと見る

パーク・システムズ・ジャパンの取り扱い製品

パーク・システムズ・ジャパンの製品をもっと見る

この商品の取り扱い会社情報

  • 本社所在地: 東京都
Copyright © 2024 Metoree