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パワー半導体検査装置 パワー半導体の熱抵抗測定器をご紹介します 熱抵抗測定器取扱企業
コペル電子株式会社カテゴリ
| 商品画像 | 品番 | 価格 (税抜) | 印加電圧 | 通電電流 | 電力印加幅 | 測定電流 (Im) | 測定範囲 | サンプリング点 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
熱抵抗測定器 |
要見積もり |
2~30/100/600/1,200V |
0.1~30/100/200/500/1,000A |
100,200,500μS |
1~99/199/999mA |
ΔVBE: ~999/1,999mV (ただしVBE MAX: 3V) |
Td 50~990μS |
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半導体検査装置をフィルターから探すことができます
使用用途
#パッケージ検査 #ウエハ検査 #マスク検査 #回路パターン検査 #表面欠陥検査 #接合部検査 #絶縁特性評価 #信頼性評価 #材料評価 #電気特性測定 #故障解析 #オンライン検査検査対象
ウエハ検査装置 チップ検査装置 パッケージ検査装置検査方式
光学式検査装置 電気式検査装置検出精度
マクロ検査装置 ミクロ検査装置 ナノスケール検査装置 自動検査装置搬送方式
ステージ式検査装置 トレイ式検査装置 ローダアンローダ式検査装置処理能力 秒/個
0 - 0.1 0.1 - 1 1 - 3電源 V
0 - 100 100 - 200 200 - 250分解能 μm
0 - 1 1 - 10 10 - 30 30 - 50供給方式
トレー スティック パーツフィーダ コンベア マガジンローダ ダイシングフレームカセット ウエハリング テープフィーダコンタクト
テストヘッド対応 ケルビンコンタクト ソケット ソケットボード プローブピン
