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| 商品画像 | 品番 | 価格 (税抜) | 対象素子 | SW TIME | VCE (SUS) | 負荷短絡 | インダクタンス | 波形取得 | 温度設定範囲 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
パワーモジュール動特性検査装置 (加熱/冷却用チャンバー付き) |
要見積もり |
N-Ch IGBT/IPM/P-MOS FET Diode |
VCC:1,000V IC:1,000A VG:±20V |
VCC:1,000V IC:2,000A VG:±20V VCE (SUS) : 2,500V |
VCC:1,000V IC:5,000A VG:±20V |
L:3μH~1mH |
D.S.O. |
-40℃~+150℃ |
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半導体検査装置をフィルターから探すことができます
使用用途
#パッケージ検査 #ウエハ検査 #マスク検査 #回路パターン検査 #表面欠陥検査 #接合部検査 #絶縁特性評価 #信頼性評価 #材料評価 #電気特性測定 #故障解析 #オンライン検査検査対象
ウエハ検査装置 チップ検査装置 パッケージ検査装置検査方式
光学式検査装置 電気式検査装置検出精度
マクロ検査装置 ミクロ検査装置 ナノスケール検査装置 自動検査装置搬送方式
ステージ式検査装置 トレイ式検査装置 ローダアンローダ式検査装置処理能力 秒/個
0 - 0.1 0.1 - 1 1 - 3電源 V
0 - 100 100 - 200 200 - 250分解能 μm
0 - 1 1 - 10 10 - 30 30 - 50供給方式
トレー スティック パーツフィーダ コンベア マガジンローダ ダイシングフレームカセット ウエハリング テープフィーダコンタクト
テストヘッド対応 ケルビンコンタクト ソケット ソケットボード プローブピン
