ベンチトップ型高性能非接触3次元白色光干渉型光学顕微鏡（表面形状粗さ計・白色干渉計） ContourX-100/200/500-ContourX-100

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ベンチトップ型高性能非接触3次元白色光干渉型光学顕微鏡（表面形状粗さ計・白色干渉計） ContourX-100/200/500-ブルカージャパン株式会社

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■光学式プロファイラー（表面形状粗さ計・白色干渉計）ブルカーは白色干渉法を利用した表面形状計測機器のパイオニアであり、精密デバイスから車載部品等の大型試料に至るまでの幅広いサイズのサンプルに対応した 非接触3次元形状測定・分析を提供しています。最新モデルとなるContourシリーズは、10世代に渡る独自のテクノロジーの進歩の集大成であり、他の計測機器では困難な環境下での高精度で高再現性な3次元表面測定を提供しています。

■38年以上にわたる光学式計測器の開発実績1982年に世界で初めて商品化されたNCP1000 (後のTOPO-2D/3Dシステム) は、当時多くの人々を驚嘆させ、その後続々と開発された製品は世界中のさまざまな業界に提供してきました。こうした実績と技術を終結させて開発したのが、Contourシリーズです。 

ブルカーの白色光干渉型顕微鏡は、業界トップのサービスとサポート体制を備え、研究・開発から製造現場での品質・行程管理に至る 様々な用途で運用されています。自動車/航空宇宙、高輝度LED、太陽電池、半導体、医療機器などの各市場における高度な精密機械加工品評価の専門的アプリケーションに応え、お客様の予算と目的に合ったソリューションを提供しています。 

■エントリーモデル ベンチトップ型 白色光干渉型顕微鏡  ContourX-100
ContourX-100は、数十年にわたるブルカー独自の白色光干渉計（WLI）の革新的な技術を取り入れた合理化されたパッケージで、妥協のない2D/3Dの高解像度測定機能を提供します。ゲージ対応のベンチトップシステムは、操作画面は直感的でわかりやすいインターフェースを提供し、精密機械加工された表面、厚膜、トライボロジーアプリケーション等向けにプログラムされたフィルター機能や分析機能の豊富なライブラリに直感的にアクセスし、高速、高精密な計測データを提供します。

■表面テクスチャ計測にフレキシブルに対応 ベンチトップモデル 白色光干渉型顕微鏡 ContourX-200
ContourX-200 Optical Profilometerは、高度な特性評価、カスタマイズ可能なオプション、使いやすさを完璧に融合させた、クラス最高の高速、高精度、再現性のある非接触3次元表面形状測定装置です。ゲージを搭載した小型のシステムは、広域対応の測定範囲 5MPデジタルカメラと新型の電動XYステージにより、2D/3Dの高分解能測定を実現しました。ContourX-200は、業界で最も先進的な操作・解析ソフトウェアであるVision64を搭載しています。

■自動化機能対応 ハイエンドベンチトップモデル白色光干渉型顕微鏡 ContourX-500
ContourX-500 Optical Profilometerは、世界で最も包括的な自動化ベンチトップシステムで、高速で非接触の3次元表面形状測定を実現します。ブルカー独自のチップ/チルト式光学ヘッドを搭載したこのシステムは、トラッキングエラーを最小限に抑えながら、様々な角度から表面形状を測定するための完全なプログラムが可能です。ゲージを搭載したContourX-500は、高いZ軸分解能と精度を誇り、ブルカーの白色光干渉法(WLI)フロアスタンド型モデルで認められたすべての利点を、省スペースでコンパクトな設置面積で提供します。

型番
この商品には3種類の型番があります

シリーズ
ベンチトップ型高性能非接触3次元白色光干渉型光学顕微鏡（表面形状粗さ計・白色干渉計） ContourX-100/200/500

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使用用途

#測定 #研究開発 #材料評価 #生物試料 #同定 #異物解析 #構造解析

総合倍率倍

0 - 50 50 - 100 100 - 400 400 - 1,000 1,000 - 2,000 2,000 - 3,000

照明

LED ハロゲンランプケーラー照明

作動距離 mm

0 - 10 10 - 50 50 - 100 100 - 200 200 - 500

分解能 µm

0 - 1 1 - 10 10 - 100 100 - 1,000 1,000 - 10,000 10,000 - 50,000

鏡筒形式

三眼双眼単眼

電源 V

5 - 20 20 - 100 100 - 250

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ブルカージャパン株式会社は、高性能科学機器や、分析・診断ソリューションの開発・製造・販売を行っている企業です。本社所在地は神奈川県横浜市であり、1975年に設立されました。化学、生物、工業材料の試料に対する分析装置...

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■光学式プロファイラー（表面形状粗さ計・白色干渉計）

■38年以上にわたる光学式計測器の開発実績

■エントリーモデルベンチトップ型白色光干渉型顕微鏡 ContourX-100

■表面テクスチャ計測にフレキシブルに対応ベンチトップモデル白色光干渉型顕微鏡 ContourX-200

■自動化機能対応ハイエンドベンチトップモデル白色光干渉型顕微鏡 ContourX-500

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■光学式プロファイラー（表面形状粗さ計・白色干渉計）

■38年以上にわたる光学式計測器の開発実績

■エントリーモデル ベンチトップ型 白色光干渉型顕微鏡 ContourX-100

■表面テクスチャ計測にフレキシブルに対応 ベンチトップモデル 白色光干渉型顕微鏡 ContourX-200

■自動化機能対応 ハイエンドベンチトップモデル白色光干渉型顕微鏡 ContourX-500

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