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半導体評価装置 マイクロLED発光パターン顕微観察システム MMLEDMSS-NUV-VIS-BP取扱企業
株式会社睦コーポレーションカテゴリ
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半導体検査装置の製品97点中、注目ランキング上位6点
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| 商品画像 | 品番 | 価格 (税抜) | プローバー部 プローブ針 | プローバー部 マニピュレータ | プローバー部 裏面観察用ウィンドウ | プローバー部 XY軸 | プローバー部 Z軸 | プローバー部 水平スライド軸 | 顕微鏡部 波長範囲 | 顕微鏡部 対物レンズ | 顕微鏡部 レボルバ | 顕微鏡部 フィルターポート | 顕微鏡部 光入出力ポート | 顕微鏡部 NDフィルタ | 顕微鏡部 カメラ 撮像素子 | 顕微鏡部 カメラ 撮像面積 | 顕微鏡部 カメラ 画素サイズ | 顕微鏡部 カメラ 波長範囲 | 顕微鏡部 カメラ ソフトウェア | 顕微鏡部 照明 | ビームプロファイラー部 波長範囲 | ビームプロファイラー部 ビームサイズ | ビームプロファイラー部 センサタイプ | ビームプロファイラー部 有効ピクセル数 | ビームプロファイラー部 有効ピクセルサイズ |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|
MMLEDMSS-NUV-VIS-BP |
要見積もり |
材質:タングステン |
全ストローク (X、Y、Z) :各10mm |
有効径:直径5mm |
移動量:±6.5mm |
移動量:±5mm |
移動量:±50mm |
収差補正範囲:355nm~620nm |
10倍 |
対物レンズ切替え個数:4ケ穴 |
2ポート |
1ポート |
0D0.3、1.0、2.0、3.0 |
CMOS白黒イメージセンサ |
6.41 (H) ×4.59 (V) mm |
1.67 (H) ×1.67 (V) μm |
400nm~900nm |
プロファイル測定機能付 |
白色LED (400~700nm) 同軸落射照明 |
190nm~1,100nm |
44μm~5.3μm |
シリコンCCD |
1,624×1,124 |
4.4μm |
半導体検査装置をフィルターから探すことができます
使用用途
#パッケージ検査 #ウエハ検査 #マスク検査 #回路パターン検査 #表面欠陥検査 #接合部検査 #絶縁特性評価 #信頼性評価 #材料評価 #電気特性測定 #故障解析 #オンライン検査検査対象
ウエハ検査装置 チップ検査装置 パッケージ検査装置検査方式
光学式検査装置 電気式検査装置検出精度
マクロ検査装置 ミクロ検査装置 ナノスケール検査装置 自動検査装置搬送方式
ステージ式検査装置 トレイ式検査装置 ローダアンローダ式検査装置処理能力 秒/個
0 - 0.1 0.1 - 1 1 - 3電源 V
0 - 100 100 - 200 200 - 250分解能 μm
0 - 1 1 - 10 10 - 30 30 - 50供給方式
トレー スティック パーツフィーダ コンベア マガジンローダ ダイシングフレームカセット ウエハリング テープフィーダコンタクト
テストヘッド対応 ケルビンコンタクト ソケット ソケットボード プローブピン
