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ペリクルパーティクルスキャナ YPI-MX P-YPI-MX P
ペリクルパーティクルスキャナ YPI-MX P-株式会社YGK

ペリクルパーティクルスキャナ YPI-MX P
株式会社YGK



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この製品について

ペリクル用検査装置。ペリクルの表裏面異物を高速に測定できます。

  • シリーズ

    ペリクルパーティクルスキャナ YPI-MX P

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ペリクルパーティクルスキャナ YPI-MX P 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜)
ペリクルパーティクルスキャナ YPI-MX P-品番-YPI-MX P

YPI-MX P

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フィルターから探す

半導体検査装置をフィルターから探すことができます

処理能力 秒/個

0 - 0.1 0.1 - 1 1 - 3

電源 V

0 - 100 100 - 200 200 - 250

分解能 μm

0 - 1 1 - 10 10 - 30 30 - 50

供給方式

トレー スティック パーツフィーダ コンベア マガジンローダ ダイシングフレームカセット ウエハリング テープフィーダ

コンタクト

テストヘッド対応 ケルビンコンタクト ソケット ソケットボード プローブピン

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