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返答率
100.0%
返答時間
12.9時間
サイズ
123 (W) ×224 (D) ×128 (H) mm
シリコン測定厚み範囲
6~400μm
樹脂厚み範囲
10~1,000μm
最小サンプリング周期
5kHz (200µsec)
繰り返し精度
0.01%以下
測定スポット径
φ20µm以上
測定距離
50、80、120、150、200mm
光源
半導体光源 (レーザークラス3B製品)
解析方法
FFT解析
インターフェイス
LAN、I/O入出力端子
電源
DC24V仕様 (AC電源ユニット別売り)
型番
超高速分光干渉式厚み計 SF-3/200シリーズ
超高速分光干渉式厚み計取扱企業
大塚電子株式会社カテゴリ
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厚み測定器の製品229点中、注目ランキング上位6点
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| 商品画像 | 価格 (税抜) | サイズ | シリコン測定厚み範囲 | 樹脂厚み範囲 | 最小サンプリング周期 | 繰り返し精度 | 測定スポット径 | 測定距離 | 光源 | 解析方法 | インターフェイス | 電源 |
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要見積もり | 123 (W) ×224 (D) ×128 (H) mm | 6~400μm | 10~1,000μm | 5kHz (200µsec) | 0.01%以下 | φ20µm以上 | 50、80、120、150、200mm | 半導体光源 (レーザークラス3B製品) | FFT解析 | LAN、I/O入出力端子 | DC24V仕様 (AC電源ユニット別売り) |
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測定原理が非接触式の製品
厚み測定器をフィルターから探すことができます
使用用途
#金属加工 #プラスチック成形 #フィルム検査 #紙製品検査 #半導体検査 #塗装管理 #ガラス製造 #電池製造 #医療機器製造測定原理
接触式 非接触式 超音波式 渦電流式測定方式
単点式 ラインスキャン式 面スキャン式構造形態
卓上型 ハンディ型 インライン型測定対象
薄膜対応型 厚板対応型測定範囲 mm
0 - 1 1 - 10 10 - 100 100 - 500 500 - 1,000分解能 秒
0 - 0.01 0.01 - 0.1 0.1 - 1 1 - 10 10 - 10,000測定精度 mm
0 - 0.01 0.01 - 0.1 0.1 - 1繰り返し精度 μm
0 - 0.1 0.1 - 1 1 - 5 5 - 10重量 kg
0 - 1 1 - 10 10 - 500
