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車載部品検査装置 車載向け計測器/データロガー パワーアナライザシリーズ
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ミックスドシグナルパワーアナライザ ■DEWETRON (デュートロン) 製のパワーアナライザは固定型と持ち運び型。チャンネル拡張が簡単な高...
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プリント基板&半導体パッケージ基板検査システム用 NS Probe
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MEMSプロセスを用いた微細化・先端形状の多様化を実現したプローブを開発。Flat-Typeは寸法精度の向上を行っております。
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自動電気検査装置 半導体パッケージ用自動検査装置 GATS-6310
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多面付けCSP基板 導通・短絡 (絶縁) 検査システム 0.6sec/ピースの超高速検査を実現。ファインピッチ&極薄FC-CSP基板の検査に最適な高...
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自動電気検査装置 半導体パッケージ用自動検査装置 GATS-7512 ICS/メモリ基板用
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高速高精度シャトル型ステップ&リピート式OPEN/LEAK自動基板検査装置 多面付け基板 (CCM/Memory用途/ICS/CSP等) パターンの導通・短絡 ...
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自動電気検査装置 半導体パッケージ用自動検査装置 GATS-7755 ICS/SLP用
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高速高精度シャトル型ステップ&リピート式OPEN/LEAK自動基板検査装置 多面付け基板 (SLP/ICS/MCM/MCP/CSP等) パターンの導通・短絡 (絶...
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高速・高精度3D/2D/SD ウエハバンプ自動検査システム RWi-300MK3
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■特徴 ・3D/2D/SDの同時測定を高速・高精度に実現 ・金バンプ3D検査に最適 ・多様な搬送システム ■High Accuracy 2D/3D測定精度が大き...
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自動電気検査装置 電気検査用テスター IC Embedded基板に特化したスーパーテスタ R-5940
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ICマルチファンクション検査対応高速OPEN/LEAKテスター 高速な導通・短絡測定、μΩ精度と高速検査の4端子測定、all-CHLCR測定に加え、高...
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自動電気検査装置 電気検査用テスター R-780
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AC/DCMULTITESTER ■特徴 ・超高絶縁1TΩ/10TΩ ・高速・高精度 ・コンパクト設計 ・微小容量検査 ・0.01fF分解能 ・4W低抵抗測定 ・0.1mΩ...
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高密度基板対応2D/3D検査装置 RSH Series RSH-23
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■特徴 ・超高速・高精度検査 ・2D/3D同時測定システム ・バンプ径/ピッチ微細化対応
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自動電気検査装置 半導体パッケージ用自動検査装置 GATS-2300 FC-BGA/個片用
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高速高精度‐ロータリー・INDEXテーブル式OPEN/LEAK自動個片基板検査装置 BGA-MCM個片パッケージの高速検査に最適。8ステーションのロー...
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光学式検査装置 半導体ウエハ用光学式自動検査装置 RWi-300
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Gold Bump Wafer Process 2D/3D Inspection System Cuピラーバンプ、金バンプ、低段差バンプやマイクロバンプの量産全数検査に最適な高...
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自動電気検査装置 半導体パッケージ用自動検査装置 GATS-7861 FC-BGA/パネル用
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高速高精度‐上/下デュアルシャトル型ステップ&リピート式OPEN/LEAK自動パネル基板検査装置 FC-BGA多面付け基板をデュアルシャトルで効...
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検査用治具 マイクロチューブ
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肉厚10um以下の高精度パイプを製造。主にコンタクトプローブに使用されています。
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高密度基板対応2D/3D検査装置 RSH Series RSH-12
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■特徴 ・超高速・高精度検査 ・2D/3D同時測定システム ・バンプ径/ピッチ微細化対応
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自動電気検査装置 タッチパネル・FPC検査装置 NRFEIS-5060
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多面付FPC用オープン/μショート/リーク検査装置 大版シート型FPC向け。高いスループットを実現。NRFEIS-5060シリーズは、ファインピッ...
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半導体パッケージ向け高速・高精度検査装置 アドバンスドパッケージ対応導通絶縁検査装置 GATS-7836
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■特徴 ・大型個片/クォーターパネル高精度検査装置 ・チップレットなどの大型・多ピン基板対応 ・多様なオートメーション要求に対応 ・L...
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高密度基板対応2D/3D検査装置 RSH Series RSH-4
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■特徴 ・超高速・高精度検査 ・2D/3D同時測定システム ・バンプ径/ピッチ微細化対応
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ガラス基板対応3D計測装置 NSAT Series 3D Head
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次世代基板対応、高速・高精度3次元計測装置 ■特徴 ・深さ5μm、LineSpace2/2対応 ・透過測定法によるSR・ABFの厚さ測定 ・ガラスコア対...
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IGBT/SiC パワーモジュール動特性手動検査装置 NATS-1630
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ワイドバンドギャップな計測技術。絶縁用、静特性用検査装置も構築可能。 ■データトレーサビリティ 外部PCやcloud等の上位データ管理シ...
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自動電気検査装置 プリント基板用自動検査装置 STAR REC V5Ⅲ
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両面アライメント機構付プリント基板全自動検査装置 BGA基板からマザー基板まであらゆるファインピッチ基板の検査をカバーするオールラ...
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車載部品検査装置 車載向け計測器/データロガー データ収集ハードウエアシリーズ メインフレーム型
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ハードウエア ■DEWETRON (デュートロン) 社製のデータ収集ハードウエアシリーズのメインフレーム型です。 ・AC電源駆動の他バッテリー...
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自動電気検査装置 プリント基板用自動検査装置 STAR REC M6ⅡSW HDI/HLC基板用
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高速・高精度4端子検査‐ロータリー・INDEXテーブル式OPEN/LEAK自動基板検査装置 高密度-多層ビルドアップ基板 (PCB/HDI/HLC/LED等) パ...
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自動電気検査装置 電気検査用テスター R-5810シリーズ
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部品内蔵検査 高速Open/Shortテスター 高精度検査と高速検査の両立を実現。低電圧から高電圧、低抵抗から高抵抗の導通・短絡検査をカバ...
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車載部品検査装置 車載向け計測器/データロガー データ計測モジュールシリーズ
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データ計測用モジュール ■DEWETRON (デュートロン) 社製の計測モジュールは、オールインワン型、メインフレーム型、フロントエンド型等...
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車載部品検査装置 車載向け計測器/データロガー データ収集ハードウエアシリーズ オールインワン型
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ハードウエア ■DEWETRON (デュートロン) 社製のデータ収集ハードウエアシリーズのオールインワン型です。 ・AC電源駆動の他バッテリー...
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車載部品検査装置 車載向け計測器/データロガー データ収集ハードウエアシリーズ フロントエンド型
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ハードウエア ■DEWETRON (デュートロン) 社製のデータ収集ハードウエアシリーズのフロントエンド型です。 ・AC電源駆動の他バッテリー...
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ガラス基板対応3D計測装置 NSAT Series SR&ABF Thickness Module
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IGBT/SiC パワーモジュール動特性手動検査装置 NATS-1730
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ワイドバンドギャップな計測技術。絶縁用、静特性用検査装置も構築可能。 ■データトレーサビリティ 外部PCやcloud等の上位データ管理シ...
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自動電気検査装置 プリント基板用自動検査装置 STAR REC M6V SW HDI/HLC基板用
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高速・高精度4端子検査-ロータリー・INDEXテーブル式OPEN/LEAK自動基板検査装置 高密度-多層ビルドアップ基板 (PCB/HDI/HLC/LED等) パ...
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光学式検査装置 半導体パッケージ用光学式自動検査装置 RSH-120
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次世代ICサブストレート基板バンプ検査装置 次世代ICサブストレート基板の3Dバンプの高さと外観の同時検査等に対応 ■特徴 ・高速高精...
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会社基本情報
| 郵便番号 | 〒617-0003 |
|---|---|
| 本社住所 | 京都府向日市森本町東ノ口1-1ニデックパークC棟 |
| 創業年 | 1991年 |
| 資本金 | 9,300,800,000円 |
| 従業員数 | 385人 |
| 法人番号 | 1130001025049 |
| 会社区分 | メーカー |
| リンク | ニデックアドバンステクノロジー株式会社 ホームページ |
事業所情報
ニデックアドバンステクノロジー株式会社の営業所、生産・加工施設が全国で3箇所登録されています。
営業所
岐阜県・東京都でニデックアドバンステクノロジー株式会社の営業所が2箇所登録されています。
名古屋営業所 営業所
〒503-0974 岐阜県大垣市久瀬川町1-3東京営業所 営業所
〒141-0032 東京都品川区大崎1-20-13（日本電産東京ビル 北館5F）生産・加工施設
福岡県でニデックアドバンステクノロジー株式会社の生産・加工施設が1箇所登録されています。
九州工場 生産・加工施設
〒833-0055 福岡県筑後市大字熊野1124事業所情報について
事業所はMetoreeに登録されているもののみが表示されています。ニデックアドバンステクノロジー株式会社の製品カテゴリ
ニデックアドバンステクノロジー株式会社の製品が3件登録されています。
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