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分析・計測機器 表面分析装置 走査型オージェ電子分光分析装置 (AES/SAM) PHI 4700 Thin Film Analyzer-アルバック販売株式会社

アルバック販売株式会社

分析・計測機器 表面分析装置 走査型オージェ電子分光分析装置 (AES/SAM) PHI 4700 Thin Film Analyzer

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■概要 電子分光法 (AES：Auger Electron Spectroscopy) は、固体表面に電子線を照射することにより放出されるオージェ電子のスペクトル...


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