ナノスケール赤外分光分析システム統合AFM Icon-IR 三弘エマテック株式会社
三弘エマテック株式会社の対応状況
返答率
100.0%
平均返答時間
44.4時間
この製品について
■特徴
・機械特性、電気特性技術に加えナノスケール赤外分光分析が単一システムで実現 ・大型試料対応 ・ハイパフォーマンス10nm以下■AFMオプション
・熱分析オプション：走査型示唆熱顕微鏡 (VITA SThM) 、局所熱分析 (VITA nanoTA) ・機械特性オプション：高速弾性率マッピング (PeakForce QNM HA) 、動的粘弾性測定 (NDMA) 、300HzまでのDMA・ヒーター付き (AFM-nDMA 300Hz) 、DMAレンジを20kHzまで拡張 (AFM-nDMA 20kHz) 、接触共振粘弾性マッピング＋QNM (FFV-CR with QNM-HR) ・電気特性オプション：超微小電流測定+QNM (PeakForce TUNA with QNM) 、微小電流測定 (CAFM) 、走査型キャパシタンス顕微鏡 (SCM) 、走査型拡がり抵抗顕微鏡 (SSRM) 、走査型マイクロ波インピーダンス顕微鏡 (sMIM2.0) 、表面電位測定+QNM (KPFM with QNM) 、表面電位測定 (KPFM-U) 、DCUBETUNA/DCUBESCM/DCUBE SSRM/DCUBE sMIM/DCUBE PFM-
シリーズ
ナノスケール赤外分光分析システム統合AFM Icon-IR
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取扱企業
三弘エマテック株式会社
分光分析装置注目ランキング
分光分析装置の製品10点中、注目ランキング上位6点
電話番号不要
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返答率96%以上
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ナノスケール赤外分光分析システム統合AFM Icon-IR 品番1件
| 商品画像 | 品番 | 価格 (税抜) | メーカー | スキャンレンジ | Zノイズフロア | 標準イメージモード | 標準IRモード | レーザー種類 | 選択可能なIRレーザー |
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Icon-IR |
要見積もり | ブルカージャパン (株) | XY 90μm | ＜50pm RMS | PeakForce Tapping、Contact Tapping、FAST Tapping Force Curves、Force modulation | Contact AFM-IR、Resonance Enhanced AFM-IR、Tapping AFM-IR、Surface Sensitive AFM-IR | QCL 780~1,800cm-1 (カイザー) 、OPO 1,900~2,600cm-1 (カイザー) 、QCL 2,700~3,600cm-1 (カイザー) | 中赤外CW/Pレーザー 1,900~2,600cm-1 (カイザー) 、中赤外OPOレーザー 2,700~3,600cm-1 (カイザー) |
のついている項目名や値は、Metoreeの自然言語処理アルゴリズムを用いて自動生成された値です。各メーカーの製品を横断して比較しやすくするための参考としてご利用ください。自動生成データは黒色の文字、元データは灰色の文字です。
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