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アルバック販売のイオン測定器

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2 点の製品

アルバック販売株式会社

分析・計測機器 表面分析装置 四重極型二次イオン質量分析装置 (D-SIMS) PHI ADEPT-1010

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■概要 二次イオン質量分析法 (SIMS:Secondary Ion Mass Spectrometry) は試料にイオンを照射し、試料から放出される二次イオンを質量分析することによって、...


アルバック販売株式会社

分析・計測機器 表面分析装置 飛行時間型二次イオン質量分析装置 (TOF-SIMS) PHI nanoTOF II™

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■概要 nanoTOF IIは、イオン透過特性に優れたトリプルフォーカス静電アナライザ (TRIFT型アナライザ) を継承しつつ、新しい一次イオン銃により基本性能が大幅...


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