全てのカテゴリ
閲覧履歴
2 点の製品がみつかりました
2 点の製品
アルバック販売株式会社
80人以上が見ています
最新の閲覧: 21時間前
100.0% 返答率
125.8時間 返答時間
■概要 二次イオン質量分析法 (SIMS:Secondary Ion Mass Spectrometry) は試料にイオンを照射し、試料から放出される二次イオンを質量分析することによって、...
アルバック販売株式会社
70人以上が見ています
最新の閲覧: 1日前
100.0% 返答率
125.8時間 返答時間
■概要 nanoTOF IIは、イオン透過特性に優れたトリプルフォーカス静電アナライザ (TRIFT型アナライザ) を継承しつつ、新しい一次イオン銃により基本性能が大幅...