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アルバック販売のイオン測定器

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アルバック販売株式会社

分析・計測機器 表面分析装置 飛行時間型二次イオン質量分析装置 (TOF-SIMS) PHI nanoTOF II™

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100.0% 返答率

199.9時間 返答時間

■概要 nanoTOF IIは、イオン透過特性に優れたトリプルフォーカス静電アナライザ (TRIFT型アナライザ) を継承しつつ、新しい一次イオン銃...


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