超高真空低温4探針走査型プローブ顕微鏡システム USM1400-4P-USM1400-4P

超高真空低温4探針走査型プローブ顕微鏡システム USM1400-4P
株式会社ユニソク

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この製品について

市販品で最も多機能、高性能な多探針SPMシステムでナノテクノロジー研究の新鋭ツールです。JST先端計測開発事業の委託により、世界初ユニソクの総力を挙げて開発された最新鋭の多探針プローブ顕微鏡システムです。4探針独立にプローブ顕微鏡走査で、低温領域から広い温度範囲でマイクロ・ナノスケールの表面電気伝導測定やナノデバイスの評価に使用されます。

独自に開発された多機能プローブを使用して高分解能を実現し、広範囲の応用計測が可能となります。

■特長・電子顕微鏡によるナノスケールの位置決めが可能
・STM・AFMの各機能が独立プローブで可能
・4端子電気伝導測定がナノスケールで可能
・超高真空MBE用真空チャンバー装備
・光照射、発光測定、高周波測定などが容易
・超伝導コイル (オプション) を組込んでホール効果、スピン計測に応用

■用途・導電性薄膜のマイクロ、ナノスケール4端子抵抗測定
・ナノ構造、ナノドットの導電特性の計測
・有機導電膜、半導体の温度可変導電性計測
・ナノデバイスのローカル電気特性の解析
・温度可変STMイメージング
・その他表面解析に広く応用できる

型番
この商品には1種類の型番があります

シリーズ
超高真空低温4探針走査型プローブ顕微鏡システム USM1400-4P

取扱企業
株式会社ユニソク

カテゴリ

観察機器

走査型プローブ顕微鏡 (SPM)

観察機器

走査型電子顕微鏡

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超高真空低温4探針走査型プローブ顕微鏡システム USM1400-4P 品番1件

商品画像	品番	価格 (税抜)	4プローブSTMヘッド最大スキャン範囲	4プローブSTMヘッド最小分解能 (STM)	4プローブSTMヘッド試料およびプローブステージ	FE-SEM 最小分解能
	USM1400-4P	要見積もり	0.38 × 0.38 × 0.38 μm3 @ 5 K (X×Y×Z)	X, Y: 0.1 nm (原子分解能) ； Z: 0.02 nm以下	最大駆動範囲 X, Y: 5 mm; Z: 3mm	20 nmまで (条件設定加速電圧 2 5kV・WD 15 mm、プローブ電流1nA時) 最大視野 3 mm× 3 mm (加速電圧 5 kV 時)