欠陥検査装置 ANALYZER5 Φ6
ANALYZER株式会社
この製品について
■このような課題を解決します
・検査員による測定値のバラつきをなくしたい ・検査員による測定作業工数を減らしたい ・内径／真円度測定を高速に行いたい ・欠陥検査工程、径／真円度測定工程を1つにしたい■特徴
・欠陥検査と内径／真円度測定が同時に実施可能です。 ・2次元データと3次元データを組み合わせることで高速な測定を実現します。-
シリーズ
欠陥検査装置 ANALYZER5 Φ6
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取扱企業
ANALYZER株式会社
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カテゴリ
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欠陥検査装置 ANALYZER5 Φ6 品番1件
| 商品画像 | 品番 | 価格 (税抜) | 方式 | 光源 | レーザークラス | 検出成分 | 対象口径 | 回転数 | 有効測定長 | 最小検出サイズ | 検査速度の目安 | サンプリング周波数 | 電源 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
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SG-HDRM5 |
要見積もり | 光学スキャニング方式 |
赤色半導体レーザー (波長635nm~670nm 最大40mW) 赤外線半導体レーザー (波長840nm~1300nm 最大40mW) |
クラス2~3B | 直接光 | Φ7mm~ | 15,000rpm | 200mm | 0.2mm | 約4秒 ※測定長100mm、分解能0.1mmの場合 |
欠陥検査機能：~2,400kHz 径／真円度測定機能：~200kHz |
100、200V |
のついている項目名や値は、Metoreeの自然言語処理アルゴリズムを用いて自動生成された値です。各メーカーの製品を横断して比較しやすくするための参考としてご利用ください。自動生成データは黒色の文字、元データは灰色の文字です。
