コンパクト原子間力顕微鏡 NaioAFM
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この製品について

Nanosurf社製 NaioAFMは、大学や専門学校におけるナノテクノロジー教育や、研究開発または品質管理の現場で、表面形状を短時間に簡潔に測定したいユーザーに最適な装置です。機能性と操作性を両立し、どなたでも、どこでも使える”All-in-one”AFM 装置として、世界中で広くご利用いただいております。

特徴
■どなたでもすぐに測定を始められますNaioAFMを使うには、電源やUSBコネクタを接続し、ソフトウェアを立ち上げるだけです。どこでもすぐに測定を始められます。カンチレバーの交換は非常に簡単です。その後のレーザーアラインメントも必要ありません。Dynamicモード (ACモード) のチューニングもソフトウェアが自動的に行います。

サンプルにカンチレバーを近づければ、スキャン開始です。スキャン前に必要なこと (再チューニング、サンプルへのアプローチ、サンプル平面の傾斜補正) はソフトウェアが自動的に終わらせてくれます。

■ユーザーフレンドリーなカンチレバー交換NaioAFM 特有の"Flip-over"スキャンヘッドと専用交換ツールをお使い頂ければ、どなたでも短時間に簡単にカンチレバーの交換ができます。AFM初心者の悩みの種であったカンチレバー交換の煩わしさから解放されました。

■内蔵光学カメラで観察対象を簡単に見つけられますサンプルの真上からカンチレバーとサンプルを眺めながら、付属のXYポジッショナーで直観的に位置決めすることができます。また不慣れな初心者の方が懸念される、カンチレバーとサンプルの不意な衝突も、サイドビューカメラによって横から観察し距離感をつかむことができ、安心してカンチレバーをサンプルにアプローチすることができます。

オプション
■サイドビュー観察用カメラ通常、装置上部のレンズを直接覗き込むことで観察いただけますが、こちらのオプションをご使用頂くと、PC上でカメラの設定や調光して撮影・録画できるようになります。 (PC側にもう一つUSBポートの空きが必要です) 

■オプション測定モード種々の測定モードオプションをご用意しています。目的にあわせていつでもソフトウェアに追加することができます。

型番
この商品には1種類の型番があります

シリーズ
コンパクト原子間力顕微鏡 NaioAFM

取扱企業
日本カンタム・デザイン株式会社

カテゴリ

観察機器

走査型プローブ顕微鏡 (SPM)

観察機器

AFM (原子間力顕微鏡)

センサー

ケルビンプローブ

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商品画像	品番	価格 (税抜)	スキャン範囲 XY/Z (分解能)	Static/Dynamic RMS Zノイズ	最大サンプルサイズ幅/高さ	最大サンプルステージ可動域	トップビューカメラ	サイドビュー	アプローチ	プローブ先端電圧印加	イメージングモード	アドバンスイメージングモード	スペクトロスコピーモード	アドバンススペクトロスコピー	リソグラフィーモード	リモート制御/add-ons	対応OSバージョン・PC仕様	寸法/重量/電源
	NaioAFM	要見積もり	70 μm (1.0 nm) / 14 μm (0.2 nm)	代表値 0.4 nm (最大 0.8 nm) / 代表値 0.3 nm (最大 0.8 nm)	12 mm × 12 mm / 3.5 mm	XY方向に 12 mm	視野 2×5 mm、分解能 2um、5.0 MピクセルカラーCMOS 4×デジタルズーム、落射LED照明内蔵	視野 5×5 mm、調光LED照明内蔵カメラ (視野2×2 mm、1.3MピクセルモノクロCMOS)	4 mmリニアモーター、2モード (モーター連続近接/モーター・ピエゾ連携近接)	±10V、5mVステップ	Static Force, Dynamic Force (AC-mode) ※2、Phase Imaging	拡がり抵抗解析モード (SRA) 、フォースモジュレーション	カ-距離カーブ測定、振幅-距離カーブ測定、電圧-距離カーブ測定	I-Vカーブ測定、しきい値指定、Z挙動指定	CADベクターグラフィック, Bitmapイメージ読み込み	Windowsスクリプトインターフェイス: LabView, C#, Visual Basic, MatLab, 他ソフトウエアに対応	Windows 7 またはそれ以降 (32/64-bit) , 1280×1024ピクセル以上、 Core 2 CPU, 4 GB RAM, USB 2.0 port 1つ以上	204x204x160 mm / 6.5 kg / 100-240 VAC (30W)