走査型プローブ顕微鏡 (SPM) AFM-IR装置 Vista One DIY, IR-PiFM / PiF-IR
株式会社日本レーザー
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この製品について
■PiFM用AFM Vista One特徴
PiFM方式を採用することにより、従来のAFM-IRの欠点を克服した最も先進的なAFM-IR機器です。半導体、ポリマー、無機物、ナノフォトニクス等の各種用途で使用いただいています。■サブ10nm PiF IR分光法
・ナノスケール IR実験用に広帯域波長可変レーザーを使用。 ・スペクトル分解能1cm-1。 ・単分子層レベルの表面感度■サブ10nm PiFMケミカルマッピング
・単分子層レベルの表面感度 ・有機材料と無機材料の両方に対応します。■適切な光学系の搭載を実現
あらゆる光源に対応できるように設計されています。3D駆動の放物面ミラーは、使用される光の波長に関係なく、励起光をチップの側面に集束させます。■カンチレバーの高速アライメント
装置に搭載のカンチレバーアライメントチップにより、カンチレバーを交換したとしても、AFMフィードバック用のレーザと近接場用レーザの両方の光学的アライメントが維持されます。Vista Oneのヘッドは、光学的なアライメントを失うことなく、サンプルやチップを交換するために取り外すことができます。■短時間で測定可能
・最速100ミリ秒 / 1点でPiF IR スペクトルを掃引できます。 ・既存のFTIRスペクトルを使用して材料を識別します。 ・固定波長のPiFM像 (ケミカルマッピング) は、XおよびY方向に最大80µmの範囲で数分で取得できます。 ・サンプルを交換しても光学的アライメントは維持されます。 ・hyPIR ™ イメージングと当社の自動主成分分析ツールは、最小限の労力で完全な画像およびスペクトルデータセットを提供します。■精度を重視した設計 静電容量センサー+光学式エンコーダー
装置に搭載の電動ステージの移動範囲は6mmです。精密制御のための光学式エンコーダを備えています。AFMスキャナーの静電容量センサーは、~100pm RMS精度のリニアスキャンを実現しています。■デュアルZスキャン機構
アーティファクトを発生させることなく、画像のサンプリングを高速化します。本装置のデュアルZピエゾスキャナシステムは、12µmの大きな垂直範囲で正確なスキャンを実現します。-
シリーズ
走査型プローブ顕微鏡 (SPM) AFM-IR装置 Vista One DIY, IR-PiFM / PiF-IR
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取扱企業
株式会社日本レーザー
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カテゴリ
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走査型プローブ顕微鏡 (SPM) AFM-IR装置 Vista One DIY, IR-PiFM / PiF-IR 品番1件
| 商品画像 | 品番 | 価格 (税抜) | AFM本体 | ノイズ対策 | レーザー | オプション |
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Vista One DIY |
要見積もり | Vista One フレーム | アクティブ防振台、および温度制御付き音響エンクロージャ | 自前の光源と組み合わせることが可能です | レーザーマルチプレクサーをはじめ、そのほかオプションを選択可能 |
のついている項目名や値は、Metoreeの自然言語処理アルゴリズムを用いて自動生成された値です。各メーカーの製品を横断して比較しやすくするための参考としてご利用ください。自動生成データは黒色の文字、元データは灰色の文字です。
