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走査型プローブ顕微鏡 (SPM) AFM-IR装置 Vista One IR +s-SNOM, IR-PiFM / PiF-IR-株式会社日本レーザー

走査型プローブ顕微鏡 (SPM) AFM-IR装置 Vista One IR +s-SNOM, IR-PiFM / PiF-IR
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■PiFM用AFM Vista One特徴

PiFM方式を採用することにより、従来のAFM-IRの欠点を克服した最も先進的なAFM-IR機器です。半導体、ポリマー、無機物、ナノフォトニクス等の各種用途で使用いただいています。

■サブ10nm PiF IR分光法

・ナノスケール IR 実験用に広帯域波長可変レーザーを使用。 ・スペクトル分解能1cm-1。 ・単分子層レベルの表面感度

■サブ10nm PiFMケミカルマッピング

・単分子層レベルの表面感度 ・有機材料と無機材料の両方に対応します。

■適切な光学系の搭載を実現

あらゆる光源に対応できるように設計されています。3D駆動の放物面ミラーは、使用される光の波長に関係なく、励起光をチップの側面に集束させます。

■カンチレバーの高速アライメント

装置に搭載のカンチレバーアライメントチップにより、カンチレバーを交換したとしても、AFMフィードバック用のレーザと近接場用レーザの両方の光学的アライメントが維持されます。Vista Oneのヘッドは、光学的なアライメントを失うことなく、サンプルやチップを交換するために取り外すことができます。

■短時間で測定可能

・最速100ミリ秒 / 1点でPiF IR スペクトルを掃引できます。 ・既存のFTIRスペクトルを使用して材料を識別します。 ・固定波長のPiFM像 (ケミカルマッピング) は、XおよびY方向に最大80µmの範囲で数分で取得できます。 ・サンプルを交換しても光学的アライメントは維持されます。 ・hyPIR ™ イメージングと当社の自動主成分分析ツールは、最小限の労力で完全な画像およびスペクトルデータセットを提供します。

■精度を重視した設計 静電容量センサー+光学式エンコーダー

装置に搭載の電動ステージの移動範囲は6mmです。精密制御のための光学式エンコーダを備えています。AFMスキャナーの静電容量センサーは、~100pm RMS精度のリニアスキャンを実現しています。

■デュアルZスキャン機構

アーティファクトを発生させることなく、画像のサンプリングを高速化します。本装置のデュアルZピエゾスキャナシステムは、12µmの大きな垂直範囲で正確なスキャンを実現します。

  • シリーズ

    走査型プローブ顕微鏡 (SPM) AFM-IR装置 Vista One IR +s-SNOM, IR-PiFM / PiF-IR

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