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走査型プローブ顕微鏡 (SPM) AFM-IR装置 Vista 75 IR +PL/ラマン, IR-PiFM / PiF-IR-Vista 75 IR +PL/ラマン
走査型プローブ顕微鏡 (SPM) AFM-IR装置 Vista 75 IR +PL/ラマン, IR-PiFM / PiF-IR-株式会社日本レーザー

走査型プローブ顕微鏡 (SPM) AFM-IR装置 Vista 75 IR +PL/ラマン, IR-PiFM / PiF-IR
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この製品について

光誘起力を使った次世代のPiFM ・ PiF -IR機器　半導体、ナノフォトニクス、ポリマー、無機物などに向けた様々な用途で使用いただけるAFM-IR装置です。

■AFM-IR装置 Vista75の特徴

PiFM方式を採用することにより、従来のAFM-IRの欠点を克服した最も先進的なAFM-IR機器です。半導体、ポリマー、無機物、ナノフォトニクス等の各種用途で使用されています。

■コンパクトな設置面積

Vista 75は従来のVista Oneに比べて占有スペースが60%以上コンパクトなデザインになりました。

■サンプルへのアクセスが容易

サンプルに簡単にアクセスでき、片手で使えるAFMヘッドクランプにより、チップとサンプルの交換が簡単になります。軽量の取り外し可能な筐体とオープンなデザインにより、光学的な位置合わせが簡単になります。

■より大きなサンプルに対応

ステージのトラベルレンジは75mmとなり、サンプルサイズの制限が大幅に緩和されました。

■光学系のクイックチェンジ・切り替えが簡単

事前に調整された光学系によりPiFM (PiF-IR) 、sSNOM 、ラマン間の切り替えが簡単に行えます。堅牢なレーザーを搭載。3D駆動のパラボリックミラーは、 PiFM 、 PiF-IR、s-SNOM、チップ増強ラマンなどのあらゆるタイプのチップ増強測定において、励起レーザーをAFMチップの頂点に位置合わせします。

■自己完結型システム

特別な環境は必要としません。 Vista 75は防振機能と乾燥空気で温度制御された音響エンクロージャーを完備しています。

  • シリーズ

    走査型プローブ顕微鏡 (SPM) AFM-IR装置 Vista 75 IR +PL/ラマン, IR-PiFM / PiF-IR

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走査型プローブ顕微鏡 (SPM) AFM-IR装置 Vista 75 IR +PL/ラマン, IR-PiFM / PiF-IR 品番1件

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株式会社日本レーザーは、レーザーおよび光関連製品を取り扱う、レーザー専門商社です。
1968年設立、1971年に日本電子株式会社の100％出資子会社となった後、2007年には日本初のMEBOで完全独立いたしました...

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