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化学分析と材料イメージングのためのナノスケール赤外分光器 Park NX-IR-パーク・システムズ・ジャパン株式会社

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Park NX-IRは、ナノスケールの赤外線 (IR) 分光器と原子間力顕微鏡 (AFM) を一体化した、化学および材料の特性評価用の装置です。 Park NX-IRには、業界をリードするParkのAFM技術にモレキュラ―ビスタ社の最新の赤外分光技術である光誘起力顕微鏡 (PiFM) が組み込まれています。 PiFM赤外分光法は、タッピングPTIR (光熱誘起共鳴法) を含む既存の分光技術よりも高空間分解能、高い測定信頼性、試料ダメージに対して優れたノンコンタクト技術を使っています。 Park NX-IRに搭載されたPiFMは、高分解能のIRスペクトル解析とIR吸収材料のイメージングができるため、正確な化学組成の測定が可能です。 高分解能のIRスペクトルと 従来のFTIR (フーリエ変換赤外分光法) は、互いに密接な相関関係を保ちます。 さらに、Park NX-IRは、ダイレクトドライブとサイドバンドバイモーダル検出という検出技術のバリエーションにより、深さ方向物質組成情報の検出ができます。

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