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紫外可視分光光度計 OSK 75QF T7取扱企業
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商品画像 | 品番 | 価格 (税抜) | 受光光学系 | 波長範囲 | 波長精度 | 波長再現性 | スペクトル帯域幅 | 迷光 | 測光範囲 | 測光精度 | 測光再現性 | ベースライン平坦度 | 測光ノイズ | ベースライン安定性 | 作業モード | ソフトウェアサポート | 測光モード | 寸法 W*D*H | 重量 | |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
OSK 75QF T7 |
要見積もり | スプリットビームモニタリングレシオシステム (Split beam monitoring ratio system) | 190~1,100nm | ±0.3nm (自動波長補正) | 0.2nm | 2nm (固定スリット) | <0.12%T (220nm,Nal;340nm,NaNo₂) | -0.3~3Abs |
±0.002Abs (0~0.5A) ±0.004Abs (0.5~1A) ±0.3%T (0~100%T) |
≦0.001A (0~0.5A) ≦0.002A (0.5~1A) ≦0.15%T (0~100%T) |
±0.002Abs (190~1,100nm) | ±0.001Abs (500nm,0Abs 2nmスペクトル周波数帯域) | 0.001Abs/h (500nm、0Abs 2nmスペクトル帯域幅、2時間のウォームアップ) | MPUモード/PCモード | MPU Software Platform/Spec UV software workstation | 透過率、吸収率、エネルギー | 690X540X540mm | 25kg | ||
OSK 75QF T7S |
要見積もり | スプリットビームモニタリングレシオシステム (Split beam monitoring ratio system) | 190~1,100nm | ±0.3nm (自動波長補正) | 0.2nm | 0.5,1,2,5nm (可変スリット) | <0.12%T (220nm,Nal;340nm,NaNo₂) | -0.3~3Abs |
±0.002Abs (0~0.5A) ±0.004Abs (0.5~1A) ±0.3%T (0~100%T) |
≦0.001A (0~0.5A) ≦0.002A (0.5~1A) ≦0.15%T (0~100%T) |
±0.002Abs (190~1,100nm) | ±0.001Abs (500nm,0Abs 2nmスペクトル周波数帯域) | 0.001Abs/h (500nm、0Abs 2nmスペクトル帯域幅、2時間のウォームアップ) | MPUモード/PCモード | MPU Software Platform/Spec UV software workstation | 透過率、吸収率、エネルギー | 690X540X540mm | 25kg |
のついている項目名や値は、Metoreeの自然言語処理アルゴリズムを用いて自動生成された値です。各メーカーの製品を横断して比較しやすくするための参考としてご利用ください。自動生成データは黒色の文字、元データは灰色の文字です。