紫外可視分光光度計 OSK 75QF T7
オガワ精機株式会社

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この製品について

■特徴・高速スキャン–波長ドライブの速度は最大1,000nm/min。
・ソフトを介し、測光測定、定量測定、スペクトルスキャン、3Dプレゼンテーション/DNA/タンパク質分析等が可能。
・要求に応じてGLP/GMP/GRPに適合した管理設定を行うことができます。
・詳細な監査証跡を備えた広範な管理機能。
・21CFR Part 11準拠 (電子記録/電子署名機能) 
・高度な自動化により、通常のサンプルを測定する場合、オペレーターはキーを 2回押すだけで済む。
・多くのオプションのアクセサリにより、機器の柔軟性と測定範囲が強化される。
・シンプルな機械構造とモジュール式の電気設計により、日常のメンテナンスが容易になる。
・重水素ランプとタングステンランプは簡単に交換でき、調整済みで提供される。
・電動式自動5/ 8セルホルダーが標準装備されており、農薬等の定量に特に役立つ。

型番
この商品には2種類の型番があります

シリーズ
紫外可視分光光度計 OSK 75QF T7

取扱企業
オガワ精機株式会社

カテゴリ

センサー

分光センサー

測定機器

分光光度計

メーター・計測機器

分光測定器

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紫外可視分光光度計 OSK 75QF T7 品番2件

フィルター

	商品画像	品番	価格 (税抜)	受光光学系	波長範囲	波長精度	波長再現性	スペクトル帯域幅 2nm (固定スリット) 0.5,1,2,5nm (可変スリット)	迷光	測光範囲	測光精度	測光再現性	ベースライン平坦度	測光ノイズ	ベースライン安定性	作業モード	ソフトウェアサポート	測光モード	寸法 WDH	重量
		OSK 75QF T7	要見積もり	スプリットビームモニタリングレシオシステム (Split beam monitoring ratio system)	190~1,100nm	±0.3nm (自動波長補正)	0.2nm	2nm (固定スリット)	<0.12%T (220nm,Nal;340nm,NaNo₂)	-0.3~3Abs	±0.002Abs (0~0.5A) ±0.004Abs (0.5~1A) ±0.3%T (0~100%T)	≦0.001A (0~0.5A) ≦0.002A (0.5~1A) ≦0.15%T (0~100%T)	±0.002Abs (190~1,100nm)	±0.001Abs (500nm,0Abs 2nmスペクトル周波数帯域)	0.001Abs/h (500nm、0Abs 2nmスペクトル帯域幅、2時間のウォームアップ)	MPUモード/PCモード	MPU Software Platform/Spec UV software workstation	透過率、吸収率、エネルギー	690X540X540mm	25kg
		OSK 75QF T7S	要見積もり	スプリットビームモニタリングレシオシステム (Split beam monitoring ratio system)	190~1,100nm	±0.3nm (自動波長補正)	0.2nm	0.5,1,2,5nm (可変スリット)	<0.12%T (220nm,Nal;340nm,NaNo₂)	-0.3~3Abs	±0.002Abs (0~0.5A) ±0.004Abs (0.5~1A) ±0.3%T (0~100%T)	≦0.001A (0~0.5A) ≦0.002A (0.5~1A) ≦0.15%T (0~100%T)	±0.002Abs (190~1,100nm)	±0.001Abs (500nm,0Abs 2nmスペクトル周波数帯域)	0.001Abs/h (500nm、0Abs 2nmスペクトル帯域幅、2時間のウォームアップ)	MPUモード/PCモード	MPU Software Platform/Spec UV software workstation	透過率、吸収率、エネルギー	690X540X540mm	25kg