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紫外可視分光光度計 OSK 75QF T7取扱企業
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| 商品画像 | 品番 | 価格 (税抜) | 受光光学系 | 波長範囲 | 波長精度 | 波長再現性 | スペクトル帯域幅 | 迷光 | 測光範囲 | 測光精度 | 測光再現性 | ベースライン平坦度 | 測光ノイズ | ベースライン安定性 | 作業モード | ソフトウェアサポート | 測光モード | 寸法 W*D*H | 重量 | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|
OSK 75QF T7 |
要見積もり |
スプリットビームモニタリングレシオシステム (Split beam monitoring ratio system) |
190~1,100nm |
±0.3nm (自動波長補正) |
0.2nm |
2nm (固定スリット) |
<0.12%T (220nm,Nal;340nm,NaNo₂) |
-0.3~3Abs |
±0.002Abs (0~0.5A) |
≦0.001A (0~0.5A) |
±0.002Abs (190~1,100nm) |
±0.001Abs (500nm,0Abs 2nmスペクトル周波数帯域) |
0.001Abs/h (500nm、0Abs 2nmスペクトル帯域幅、2時間のウォームアップ) |
MPUモード/PCモード |
MPU Software Platform/Spec UV software workstation |
透過率、吸収率、エネルギー |
690X540X540mm |
25kg |
|
|
|
OSK 75QF T7S |
要見積もり |
スプリットビームモニタリングレシオシステム (Split beam monitoring ratio system) |
190~1,100nm |
±0.3nm (自動波長補正) |
0.2nm |
0.5,1,2,5nm (可変スリット) |
<0.12%T (220nm,Nal;340nm,NaNo₂) |
-0.3~3Abs |
±0.002Abs (0~0.5A) |
≦0.001A (0~0.5A) |
±0.002Abs (190~1,100nm) |
±0.001Abs (500nm,0Abs 2nmスペクトル周波数帯域) |
0.001Abs/h (500nm、0Abs 2nmスペクトル帯域幅、2時間のウォームアップ) |
MPUモード/PCモード |
MPU Software Platform/Spec UV software workstation |
透過率、吸収率、エネルギー |
690X540X540mm |
25kg |
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受光光学系 が スプリットビームモニタリングレシオシステム (Split beam monitoring ratio system) の 分光センサー
