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半導体評価装置 ウェハレベルLEDテストシステム MLEDTS-50取扱企業
株式会社睦コーポレーションカテゴリ
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半導体検査装置の製品109点中、注目ランキング上位6点
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| 商品画像 | 品番 | 価格 (税抜) | サンプルステージ | プラテン | プローブ針 (同軸針) | マニピュレータ | 実体顕微鏡 | 光検出部 | 出力電圧検出 | 検出波形モニタ端子 | 測定項目 | 分光測定 | 標準測定ソフトウェア |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|
MLEDTS-50 |
要見積もり |
ウェハサイズ:~2インチ |
昇降可 移動範囲:4mm |
材質:タングステン |
XYZ軸移動範囲:各10mm |
倍率:7倍~45倍 |
(1) フォトダイオード (感度波長範囲:200nm~1,100nm) |
電圧測定レンジ:24V/12V/6V/3V |
SYNC:パルス駆動時の基準波形を出力します。 |
I-V-L (電流-電圧-光出力) 特性 |
波長範囲:250nm~850nm |
付属 |
半導体検査装置をフィルターから探すことができます
使用用途
#パッケージ検査 #ウエハ検査 #マスク検査 #回路パターン検査 #表面欠陥検査 #接合部検査 #絶縁特性評価 #信頼性評価 #材料評価 #電気特性測定 #故障解析 #オンライン検査検査対象
ウエハ検査装置 チップ検査装置 パッケージ検査装置検査方式
光学式検査装置 電気式検査装置検出精度
マクロ検査装置 ミクロ検査装置 ナノスケール検査装置 自動検査装置搬送方式
ステージ式検査装置 トレイ式検査装置 ローダアンローダ式検査装置処理能力 秒/個
0 - 0.1 0.1 - 1 1 - 3電源 V
0 - 100 100 - 200 200 - 250分解能 μm
0 - 1 1 - 10 10 - 30 30 - 50供給方式
トレー スティック パーツフィーダ コンベア マガジンローダ ダイシングフレームカセット ウエハリング テープフィーダコンタクト
テストヘッド対応 ケルビンコンタクト ソケット ソケットボード プローブピン
