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QIII 表面パーティクル検出器-QIII SM
QIII 表面パーティクル検出器-株式会社エムアイディ

QIII 表面パーティクル検出器
株式会社エムアイディ



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この製品について

■概要

Pentagon Technologies社が提供するQIII 表面パーティクル検出器 (SPD) は、現在の表面パーティクルの計測と管理における業界標準となっている製品です。QIII は、表面上の粒子が簡単、迅速に計測でき、クリーニングの手順と基準を定量的に規定できるため、作業者の勘と経験に頼ること無く粒子管理のバラつきを抑えます。 QIII SM/QIII STは、昨今のクリーン環境で使用する為の、ペンタゴン社 最新技術が備わっております。

■特徴

数秒で試料表面のパーティクルを検出/計測

■用途

・精密洗浄パーツの出荷前、受入時の品質確認 ・各種製造装置のクリーン維持管理 ・クリーン化が求められる試料表面の洗浄度検査

■効果

・パーティクルに起因したトラブルの低減 ・表面洗浄度管理、定量化 ・各種装置メンテナンス回数の低減

  • シリーズ

    QIII 表面パーティクル検出器

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最新の閲覧: 22時間前


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QIII 表面パーティクル検出器 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜) 測定レンジ
QIII 表面パーティクル検出器-品番-QIII SM

QIII SM

要見積もり

0.3/0.5/1.0/3.0/5.0/10.0μm

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使用用途

#環境監視 #クリーンルーム #食品製造 #清浄度管理 #異常監視 #コンタミネーション対策 #塗装工程

測定粒子径 μm

0 - 1 1 - 10 10 - 25

測定範囲 pcs/㎥

0 - 1,000 1,000 - 100,000 100,000 - 1,000,000

吸引流量 L/min

0 - 10 10 - 30 30 - 100

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