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カンチレバーのたわみ (deflection) を直接測定 レーザー干渉変位計測 (IDS)-レーザー干渉変位計測 (IDS)
カンチレバーのたわみ (deflection) を直接測定 レーザー干渉変位計測 (IDS)-オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社

カンチレバーのたわみ (deflection) を直接測定 レーザー干渉変位計測 (IDS)
オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社

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この製品について

■特徴

レーザー干渉変位計測 (IDS; Interferometric Displacement Sensor) はCypher AFM/SPM のオプションであり、従来の光てこによるたわみ検出法 (OBD, optical beam deflection) で使用されるカンチレバー角度の代わりに、カンチレバーのたわみ (deflection) を直接測定します。 IDSは静電結合によるアーティファクトを排除し、特に圧電応答力顕微鏡 (PFM) や d33 の測定において、より正確で再現性の高い測定を可能にします。

  • シリーズ

    カンチレバーのたわみ (deflection) を直接測定 レーザー干渉変位計測 (IDS)

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カンチレバーのたわみ (deflection) を直接測定 レーザー干渉変位計測 (IDS) 品番1件

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会社概要

オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社は科学研究機器、半導体プロセス装置、分析機器の輸入販売・修理・買取を行っている企業です。 1991年にイギリスのオックスフォード・インストゥルメンツの日本法人として設立されま...

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  • 本社所在地: 東京都
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