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結晶方位測定装置 自動X線単結晶方位測定装置 FSAS III-FSAS III
結晶方位測定装置 自動X線単結晶方位測定装置 FSAS III-株式会社リガク

結晶方位測定装置 自動X線単結晶方位測定装置 FSAS III
株式会社リガク

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■単結晶材料の切り出し方位を、ワイヤソーその他の切断機に正確に伝えます

Si、Ge、GaAs、SiC、水晶、LN、LT、サファイヤ、ルチル、蛍石他、さまざまな単結晶材料の切り出し方位を、ワイヤソーその他の切断機に正確に伝えます。切り出し後の方位測定も、測定者を問わず正確に行えます。

■特長

・さまざまな単結晶材料の切断方位の決定が、誰でも容易に自動的に行えます。 (試料形状や切断方法、ご予定の切断機によっては、お打合せにより、試料ホルダの仕様を別途決めさせていただく場合があります。) ・インゴット形状試料、ウェーハ形状試料の切断角度の測定が自動で行えます。 ・測定条件等を、あらかじめタッチパネル式PCに入力しておき、あとは「測定開始」をクリックするだけです。測定結果は同PCに表示されると共に、付属の小型プリンタに出力されます。 ・X線測定および光学系セッティングの自動化により、測定結果の信頼度が向上しています。 ・安全面を考慮した設計となっています。測定開始と共に試料挿入扉はロックされ、X線は測定開始時に自動発生し、測定終了後自動停止します。 ・本装置は、装置内がX線管理区域となり、かつX線発生中に装置内に作業者の体が入らないため、X線作業主任者を選任する必要がありません。

  • シリーズ

    結晶方位測定装置 自動X線単結晶方位測定装置 FSAS III

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結晶方位測定装置 自動X線単結晶方位測定装置 FSAS III 品番1件

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結晶方位測定装置 自動X線単結晶方位測定装置 FSAS III-品番-FSAS III

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#元素分析 #構造解析 #研究開発 #マッピング #異物検出 #微小部測定 #粉末試料 #薄膜

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測定可能なq範囲 nm-1

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株式会社リガクは、X線分析装置メーカーです。
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